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申请/专利权人：合芯科技(苏州)有限公司;合芯科技有限公司
摘要：本申请提供数字集成电路设计领域的应用于LEF文件的天线门面积参数计算的方法、装置、储存介质及电子终端，通过对全芯片的SPICE网表进行计算以得到天线门面积参数，并将从ABSTRACT软件中生成得到的LEF文件中的天线门面积参数进行替换，从而解决了LEF文件在抽取的过程中造成的数据不准确导致无法计算准确的天线效应值的问题，本发明提升了LEF文件计算天线效应值的准确性，进而避免了芯片因产生天线效应而导致损坏。
主权项：1.一种应用于LEF文件的天线门面积参数计算的方法，其特征在于，所述方法包括：根据全芯片的SPICE网表文件，确认出连接有所述全芯片的栅极的引脚；根据与所述引脚相连的每个栅极的单个天线门面积参数，得到所述引脚的更新天线门面积参数；根据所述引脚的更新天线门面积参数和所述全芯片的LEF文件中所述引脚的初始天线门面积参数，确认所述LEF文件中待替换参数的目标引脚；使用所述目标引脚的更新天线门面积参数替换所述LEF文件中所述目标引脚的初始天线门面积参数，以更新黑盒功能模块与所述全芯片之间的LEF文件。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 合芯科技(苏州)有限公司 合芯科技有限公司 应用于LEF文件的天线门面积参数计算的方法、装置、介质及终端
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