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申请/专利权人:紫光同芯微电子有限公司
摘要:本申请涉及集成电路技术领域,公开一种用于寄存器功能验证的方法,包括:根据寄存器列表文件,生成寄存器功能测试用例;对寄存器功能测试用例进行回归仿真,以获得日志记录;提取日志记录中的错误信息;利用训练后的集成学习模型,对错误信息对应的寄存器进行读写属性的预测,并将预测结果记录于寄存器列表文件。该方法可实现寄存器功能的自动验证,降低时间成本和人力成本,且验证方法简便效率高。本申请还公开一种用于寄存器功能验证的装置和测试验证设备。
主权项:1.一种用于寄存器功能验证的方法,其特征在于,包括:根据寄存器列表文件,生成寄存器功能测试用例;对寄存器功能测试用例进行回归仿真,以获得日志记录;提取日志记录中的错误信息;利用训练后的集成学习模型,对错误信息对应的寄存器进行读写属性的预测,并将预测结果记录于寄存器列表文件。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 紫光同芯微电子有限公司 用于寄存器功能验证的方法及装置、测试验证设备
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