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申请/专利权人：中国计量大学
摘要：本发明属于太赫兹技术领域，提供了一种基于光栅光子晶体缺陷模的太赫兹增强吸收谱器件及其制备方法。该产品包含两个相同的布拉格反射结构和衬底；两个相同的布拉格反射结构中间形成缺陷腔；所述衬底位于缺陷腔中心位置。本发明还提供该器件的制备方法，该器件结构简单，易于设计，占用空间小，便于实验操作；采用塑料材料代替介质材料，降低了制作难度，使该方法具有更强的通用性。将缺陷腔宽度从190um变化到390um，通过改变缺陷腔宽度可以得到一系列谐振峰，从而得到一系列窄带吸收光谱，将窄带吸收光谱的峰值组成包络线为薄膜待测物的增强特征吸收谱，以实现微量待测物的太赫兹指纹检测。
主权项：1.一种基于光栅光子晶体缺陷模的太赫兹增强吸收谱器件，其特征在于，包括两个相同的布拉格反射结构、薄膜分析层3、衬底4、缺陷腔5、外层7和可拉伸橡胶层8；布拉格反射结构包括介质-金属光栅层和空气层2，所述介质-金属光栅层和空气层2交替层叠设置，布拉格反射结构的最外层为介质-金属光栅层；介质-金属光栅层由塑料层1和金属层6交替形成，金属层6设置在相邻塑料层1中间；两个布拉格反射结构对称的分布在缺陷腔5的两侧，缺陷腔5中填充有空气；薄膜分析层3分布于衬底4的表面组成分析衬底，分析衬底设置于缺陷腔5的中间位置。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国计量大学 一种基于光栅光子晶体缺陷模的太赫兹增强吸收谱器件及其制备方法
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