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申请/专利权人：广东通宇通讯股份有限公司

摘要：本发明的一种微波器件OMT气密性测试装置，包括OMT、测试仪和测试装置，所述OMT包括腔体极化端和连接套端，所述测试装置包括固定底板、固定架、可调节挡块、可调节挡板、极化端气缸、连接套端气缸、第一密封组件、第二密封组件和第三密封组件；本发明中，极化端气缸先锁到位，连接套端气缸后锁到位，两个气缸将三个密封组件压紧从而使得OMT在两个方向上处于密封状态，最后通过测试进气孔与测试仪配合来判定OMT是否漏气；能够实现不同高度、不同大小、不同长度的OMT在同一测试装置上进行气密测试的目的，并且测试效果精确、省时高效，操作简单，可以很好实现工装的共用性及多功能性，很大程度上提高了微波天线器件的气密性测试效率。

主权项：1.一种微波器件OMT气密性测试装置，包括OMT（1）、测试仪和测试装置，其特征在于：所述OMT（1）包括腔体极化端（101）和连接套端（102），所述测试装置包括固定底板（2）、固定架（3）、可调节挡块（4）、可调节挡板（5）、极化端气缸（6）、连接套端气缸（7）、第一密封组件（8）、第二密封组件（9）和第三密封组件（10）；所述固定底板（2）通过两侧的可调节挡板（5）设置固定架（3），位于OMT（1）的腔体极化端（101）方向上在所述OMT（1）的上方设有极化端气缸（6），极化端气缸（6）的底端向下延伸设有极化端气缸压头（601），所述OMT（1）顶部的腔体极化端（101）包覆设置第一密封组件（8），第一密封组件（8）设有与极化端气缸压头（601）相对应的测试压头（801），测试压头（801）上开设测试进气孔（11）；所述OMT（1）的底部通过可调节挡块（4）与固定底板（2）滑动连接，可调节挡块（4）带动OMT（1）在连接套端（102）方向上进行前后位移调节，OMT（1）的底端包覆设置与第一密封组件（8）位置相对应的第二密封组件（9）；位于OMT（1）的连接套端（102）方向上在所述OMT（1）的后方通过两侧的可调节挡板（5）设置连接套端气缸（7），连接套端气缸（7）的内侧具有一连接套端气缸压头（701），所述OMT（1）后端的连接套端（102）包覆设置第三密封组件（10），第三密封组件（10）具有一个与连接套端气缸压头（701）相对应的密封压头（1001）；所述连接套端气缸（7）通过连接板设在两个可调节挡板（5）之间，两个可调节挡板（5）的端部分别开设调节孔（501），连接板的两端与调节孔（501）均相配合且带动连接套端气缸（7）在调节孔（501）内上下、左右调节；所述连接套端气缸（7）在OMT（1）腔体极化端（101）方向上进行上下位移调节、在连接套端（102）方向上进行前后位移调节；所述腔体极化端（101）与连接套端（102）在工作方向上相互垂直。

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