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ARM架构平台内存测试方法、系统、设备和存储介质 

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申请/专利权人:苏州浪潮智能科技有限公司

摘要:本发明涉及一种内存测试方法、系统、计算机设备和存储介质,方法包括:接收与ARM架构平台相关的关键字和满足标准格式的内存余量日志文件;根据所述关键字从所述内存余量日志文件中获取与所述关键字相关的测试数据;对所述测试数据进行数据处理以获取分析数据;将所述分析数据输入预设余量标准模型以输出内存测试结果。采用本方法,可以获取与ARM架构平台相关的关键字和内存余量日志文件,然后根据与ARM架构平台相关的关键字自动从内存余量日志文件中获取测试数据,自动对测试数据进行数据处理以获取分析数据,通过分析数据和预设余量标准模型便可以得到测试结果,最后将测试结果可视化处理,实现了内存测试的自动化,极大地提高了内存测试效率。

主权项:1.一种ARM架构平台内存测试方法,其特征在于,所述内存测试方法包括:接收与ARM架构平台相关的关键字和满足标准格式的内存余量日志文件;根据所述关键字从所述内存余量日志文件中获取与所述关键字相关的测试数据;对所述测试数据进行数据处理以获取分析数据;将所述分析数据输入预设余量标准模型以输出内存测试结果;其中,对所述测试数据进行数据处理以获取分析数据,包括:对所述测试数据进行批量数据计算,以获取每份余量日志文件的最小值、最大值和均值;将所述最小值、最大值和均值自动生成所述分析数据;其中,所述测试数据和所述分析数据均包括相位值、电压值;在将所述分析数据输入预设余量标准模型以输出内存测试结果前,包括:对历史分析数据及历史内存测试结果进行分析,以建立ARM架构平台的内存测试标准;通过所述内存测试标准构建所述预设余量标准模型。

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权利要求:

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