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申请/专利权人：中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
摘要：本发明公开了一种用于高精度涡流测厚仪探头标定的微位移装置，包括测厚基体、微调主体、底座、传感器支架、测长传感器；测厚基体包括金属基板，微调主体包括精密测杆、微调旋钮、壳体、侧边锁；金属基板固定在精密测杆上，待标定的涡流测厚仪探头的端面与金属基板的表面相接触；微调旋钮能够带动精密测杆微动，侧边锁用于锁紧精密测杆；精密测杆的右侧端面与测长传感器接触，测长传感器能够通过微调旋钮带动精密测杆微动而受力并发生位移变化，输出得到金属基板的高精度微位移量；传感器支架包括用于支撑传感器主体的传感器主体支撑结构和用于固定传感器套筒的套筒固定机构。本发明能够获取高精度微位移量，实现对高精度涡流测厚仪探头的标定。
主权项：1.一种用于高精度涡流测厚仪探头标定的微位移装置，其特征在于，包括测厚基体、微调主体、底座、传感器支架、测长传感器；所述测厚基体包括金属基板，所述微调主体包括精密测杆、微调旋钮、壳体、侧边锁；所述金属基板固定在所述精密测杆上，所述金属基板与水平方向垂直，待标定的涡流测厚仪探头的端面与所述金属基板的表面相接触；所述微调旋钮通过内侧螺纹与所述精密测杆的外侧螺纹配合，所述微调旋钮能够带动所述精密测杆微动，所述侧边锁固定在所述壳体上，用于锁紧精密测杆，防止所述精密测杆发生微动，所述壳体固定在所述底座上；所述精密测杆穿过所述壳体，所述精密测杆的右侧端面与所述测长传感器接触，所述测长传感器能够通过所述微调旋钮带动所述精密测杆微动而受力并发生位移变化，输出得到所述金属基板的高精度微位移量；所述测长传感器包括传感器主体和传感器套筒，所述传感器支架包括用于支撑传感器主体的传感器主体支撑结构和用于固定传感器套筒的套筒固定机构，所述传感器主体支撑结构包括支架主体、支架支撑板和调整螺母，所述支架主体用于将所述传感器主体支撑结构固定在所述底座上，所述支架支撑板用于放置所述传感器主体，所述调整螺母用来调节所述支架支撑板的高度。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 一种用于高精度涡流测厚仪探头标定的微位移装置
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