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申请/专利权人：中国工程物理研究院总体工程研究所

摘要：本发明公开了一种炮弹侵彻高冲击过载测试装置，包括软件系统、硬件系统和防护结构。软件系统包括上位机控制与数据回读分析软件和下位机嵌入式软件；硬件系统用于执行下位机嵌入式软件的防护结构；防护结构设置于炮弹内腔。本发明还公开了一种炮弹侵彻高冲击过载测试方法，应用于上述的炮弹侵彻高冲击过载测试装置。本发明涉及的炮弹侵彻高冲击过载测试装置及方法，适用于微型功率电池供电以及炮弹侵彻超高冲击过载信号测试，适合于各型炮弹侵彻试验冲击过载测试对测试装置的尺寸和待机时长有严格控制要求的测试场合，可广泛应用于炮弹侵彻高冲击过载测试、跌落碰撞试验、水平碰撞试验测试以及常规存储测试技术领域。

主权项：1.炮弹侵彻高冲击过载测试装置，其特征在于，包括：软件系统；软件系统包括上位机控制与数据回读分析软件和下位机嵌入式软件；用于执行下位机嵌入式软件的硬件系统；硬件系统包括处理器、用于存储上位机控制与数据回读分析软件发送的定时上电时间参数、过载信号负延迟存储长度参数、过载信号触发采集阈值的存储器、用于控制压阻传感器和仪用差分放大器开关的管开关器件和用于计时的定时器；处理器采用高速ARM内核处理器，主频为26MHz晶振，附属时钟为32KHz，即用作定时器处理，采用ADμCM302x型ARM3内核构成；内部具有8通道，1.8MHz采样率，分辨率为12位AD采集器件、带有SPI串行通信接口、UART异步串行通信接口、定时器接口，内含128KB256KB的FLASH存储器和64KBSRAM，供电为2.5V；下位机嵌入式软件采用ADμCM302x型ARM3专用开发工具EVAL-ADuCM3029EZ-KIT开发，开发完成后通过串口将程序直接烧写在ADμCM302x型的内部FLASH存储器中,上电开始执行程序；当定时器定时时间大于定时上电时间参数时，管开关器件开启压阻传感器和仪用差分放大器，处理器采集仪用差分放大器输出的冲击过载信号，并与过载信号触发采集阈值进行比较，当冲击过载信号持续大于阈值时，处理器将采集的过载信号存储于存储器中，若未达到阈值时，处理器将采集的过载信号按照过载信号负延迟存储长度参数存储于存储器中，测试后，将存储器存储的测试数据回传至上位机进行后续处理；防护结构；防护结构设置于炮弹内腔，防护结构包括壳体和端盖，硬件系统集成于壳体内部，端盖封装于壳体开口处，硬件系统的线缆通过端盖。

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