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一种CMP LK机台清洗端漏液检测装置及检测方法 

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申请/专利权人:上海华力微电子有限公司

摘要:一种CMPLK机台清洗端漏液检测装置,包括:刷槽,设置清洗液,用以对晶圆进行清洗;槽盖板,晶圆上残留的清洗液通过槽盖板倾斜向排液槽流至排液口,并通过排液管进行排液;漏液检测单元,设置在LK机台清洗端刷槽与排液槽之间,且当漏液液位升高至排液口预设高度时漏液检测单元触发报警;排水盘,设置第一漏液传感器,并在漏液通过排液槽的外壁缝隙滴落至LK机台底部排水盘时触发第一漏液传感器。本发明能够保证漏液检测单元触发报警后,研磨工艺正常运行,仅停止抽片,并可快速有效处理排液口堵塞问题,及时疏通,极大降低晶圆报废的可能,让机台有更好的运行时间表现,减轻工程师负担,提高机台运行安全性。

主权项:1.一种CMPLK机台清洗端漏液检测装置,其特征在于,所述CMPLK机台清洗端漏液检测装置,包括:刷槽,所述刷槽内设置清洗液,用以对晶圆进行清洗;槽盖板,所述晶圆上残留的清洗液通过所述槽盖板倾斜向排液槽流至排液口,并通过排液管进行排液;漏液检测单元,所述漏液检测单元设置在LK机台清洗端刷槽与排液槽之间,且当漏液液位升高至排液口预设高度时所述漏液检测单元触发报警;排水盘,所述排水盘内设置第一漏液传感器,并在漏液通过排液槽的外壁缝隙滴落至LK机台底部排水盘时触发所述第一漏液传感器。

全文数据:

权利要求:

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