龙图腾网&IPTOP
- 微信扫码登录
- 账号密码登录
- 短信登录/注册
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
申请/专利权人：华中科技大学
摘要：本发明公开了一种脉冲强磁场透射光谱测量方法及系统，属于光学测量技术领域，该方法将白光源导入作为脉冲强磁场下的微区测量光源的单模光纤，白光经过含有待测样品透射光路被回射，被回射的白光进入多模光纤进行回收；其中，回收的光通过光谱仪，经过处理的脉冲强磁场装置触发信号的触发下，获得携带脉冲强磁场下的待测样品的吸收光谱信息；对回收的携带脉冲强磁场下的待测样品的吸收光谱信息进行光谱测量，结合获得的脉冲强磁场下的待测样品的温度信息和磁场信息的测量结果，分析待测样品的物理性质。该方法能够实现微区测量。
主权项：1.一种脉冲强磁场透射光谱测量方法，其特征在于，包括以下步骤：将白光源导入作为脉冲强磁场下的微区测量光源的单模光纤，白光经过含有待测样品透射光路被回射，被回射的光进入多模光纤进行回收；其中，回收的光通过光谱仪，经过处理的脉冲强磁场装置触发信号的触发下，获得携带脉冲强磁场下的待测样品的吸收光谱信息；对回收的携带脉冲强磁场下的待测样品的吸收光谱信息进行光谱测量，结合获得的脉冲强磁场下的待测样品的温度信息和磁场信息的测量结果，分析待测样品的物理性质。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 华中科技大学 一种脉冲强磁场透射光谱测量方法及系统
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
主营中国专利交易买卖与专利转让许可,高校科技成果推广与科技成果转化,知识产权运营管理与平台开发,科技人才专家库与科技猎头等科技服务
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号