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申请/专利权人：中国科学院高能物理研究所;散裂中子源科学中心
摘要：本发明涉及中子散射技术领域，尤指一种通过优化分析器的几何形状，提高中子谱仪的能量分辨率和探测效率的一种用于中子谱仪的二级光谱仪中的双曲面单晶石墨分析器；所述的分析器包括基底，所述的基底的横x和纵y两个方向均根据四阶多项式设计成双曲面梯形结构，决定分析器的整体几何形状；本发明通过创新性的双曲面单晶石墨分析器设计，有效解决了现有技术中存在的问题，显著提升了中子谱仪的性能，对于中子散射研究及相关领域的应用具有重要价值。
主权项：1.一种双曲面单晶石墨中子分析器，其特征在于：所述的分析器包括基底，所述的基底的横x和纵y两个方向均根据四阶多项式设计成双曲面梯形结构，决定分析器的整体几何形状。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院高能物理研究所 散裂中子源科学中心 一种双曲面单晶石墨中子分析器及其制备方法
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