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申请/专利权人:厦门大学
摘要:本发明属于半导体制作技术领域,具体公开了一种用于三维集成电路超高深宽比硅通孔金属化的方法,具体包括以下步骤:采用原子层沉积技术在衬底材料表面以及通孔沉积绝缘层;采用原子层沉积技术在绝缘层上沉积阻挡层,阻挡层为TiN、Ru中的一种或两种;采用原子层沉积技术在阻挡层上沉积种子层;在沉积的种子层上电镀铜。本发明采用ALD铜钟子层沉积技术,可以在不同衬底沉积铜种子层,并采用常见的酸性硫酸铜体系电镀药液,兼容性较好,打通了超高深宽比TSV无缺陷填实的工艺路线,有利于先进封装超高密度互连。
主权项:1.一种用于三维集成电路超高深宽比硅通孔金属化的方法,其特征在于,包括以下步骤:1采用ALD沉积技术在衬底材料表面以及通孔沉积绝缘层;2采用ALD沉积技术在步骤1沉积的绝缘层上沉积阻挡层,所述阻挡层为TiN、Ru中的一种或两种;3采用ALD沉积技术在步骤2沉积的阻挡层上沉积种子层;4在步骤3沉积的种子层上电镀铜。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 厦门大学 一种用于三维集成电路超高深宽比硅通孔金属化的方法
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