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一种晶圆切割方法 

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申请/专利权人:渠梁电子有限公司

摘要:本发明涉及一种半导体生产方法,尤其涉及一种晶圆切割方法,其中包括:将微振动传感器贴附在主轴上;将完好的第一割刀安装在主轴上后空转,获得第一振动值;将刚好会产生斜切现象的第二割刀安装在主轴上后空转,获得第二振动值;根据第一振动值和第二振动值计算出斜切门槛振动值;将准备用于切割作业的第三割刀安装在主轴后空转,获得第三振动值;将第三振动值与斜切门槛振动值进行比较,若第三振动值大于斜切门槛振动值,则将第三割刀从主轴拆离;若第三振动值小于斜切门槛振动值,则将第三割刀投入切割作业。借由本发明的结构,可通过在主轴上贴附微振动传感器,并对割刀的质量进行控制,以提高切割质量。

主权项:1.一种晶圆切割方法;其特征在于,所述晶圆切割方法包括:提供微振动传感器,将所述微振动传感器贴附在主轴上,所述微振动传感器与控制机构信号连接;将完好的第一割刀安装在主轴上,启动所述主轴运行使得所述第一割刀空转,此时所述微振动传感器将得到的第一振动值发送至所述控制机构,而后将所述第一割刀从所述主轴拆离;将刚好会产生斜切现象的第二割刀安装在所述主轴上,启动所述主轴运行使得所述第二割刀空转,此时所述微振动传感器将得到的第二振动值发送至所述控制机构,而后将所述第二割刀从所述主轴拆离;根据所述第一振动值和所述第二振动值计算出斜切门槛振动值;将准备用于切割作业的第三割刀安装在所述主轴上,启动所述主轴运行使得所述第三割刀空转,此时所述微振动传感器将得到的第三振动值发送至所述控制机构;将所述第三振动值与所述斜切门槛振动值进行比较,若所述第三振动值大于所述斜切门槛振动值,则将所述第三割刀从所述主轴拆离;若所述第三振动值小于所述斜切门槛振动值,则将所述第三割刀投入切割作业。

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