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申请/专利权人：因而克智能科技(浙江)有限公司
摘要：本发明涉及光学透镜技术领域，具体为一种光学透镜的调校方法及系统。首先，获取原始光学透镜参数向量，通过光线追迹方法计算原始参数向量的像质评价值，有效地区分出需要调校的光学透镜并确定第一光学透镜参数向量；接着，将第一光学透镜参数向量输入条件生成对抗网络中，生成第二光学透镜参数向量，条件生成对抗网络引入像质评价损失和制造约束损失，能够指导生成器生成满足成像要求且符合物理制造限制的光学透镜参数向量；然后通过光线追迹方法计算第二光学透镜参数向量的像质评价值，确保第二光学透镜参数向量能够满足成像要求，再根据第二光学透镜参数向量对光学透镜进行调校，提高了光学透镜调校准确性，从而降低调校成本。
主权项：1.一种光学透镜的调校方法，其特征在于，包括：S1.获取原始光学透镜参数向量；所述原始光学透镜参数向量包括可调校光学透镜参数；S2.采用成像质量检测方法计算第一像质评价值并进行分析；所述第一像质评价值是根据所述原始光学透镜参数向量计算的；当所述第一像质评价值大于标准像质评价值时，将所述原始光学透镜参数向量确定为第一光学透镜参数向量；S3.将所述第一光学透镜参数向量作为条件向量输入到训练好的条件生成对抗网络中，生成第二光学透镜参数向量；S4.采用所述成像质量检测方法计算第二像质评价值并进行分析；所述第二像质评价值是根据所述第二光学透镜参数向量计算的；当所述第二像质评价值大于所述标准像质评价值时，回到步骤S3；当所述第二像质评价值不大于所述标准像质评价值时，根据所述第二光学透镜参数对光学透镜进行调校；所述成像质量检测方法通过光线追迹方法计算多尺度点列图，根据所述多尺度点列图计算像质评价值；所述像质评价值的计算公式为： 其中，表示点列图尺度数量；表示第个尺度点列图评价函数的权重；表示第 个尺度点列图中点的数量；表示第个尺度点列图中第个点的坐标，表示第个尺度点列图的几何质心坐标。
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