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一种存储控制装置及存储控制方法 

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申请/专利权人:华为技术有限公司

摘要:本申请提供一种存储控制装置及存储控制方法,该装置包括存储控制器、ZQ校准单元、温度检测单元以及电压检测单元。温度检测单元检测存储颗粒以及存储控制器的工作温度,电压检测单元检测存储颗粒的供电电压以及存储控制器的供电电压,进而ZQ校准单元可以在存储颗粒的工作温度的变化幅度和或存储控制器的工作温度的变化幅度超过设定幅度阈值时,和或,在存储颗粒的供电电压和或存储控制器的供电电压变化至设定电压区间外时,将驱动电阻以及终端电阻的电阻值校准至基准电阻值,以实现存储控制器和存储颗粒的阻抗匹配,这样可以确保在不同的工作条件下,包括存储控制装置的存储系统都能够保持良好的性能和稳定性。

主权项:1.一种存储控制装置,其特征在于,包括:存储控制器、阻抗ZQ校准单元、温度检测单元以及电压检测单元;所述存储控制器,用于接收读写指令,所述读写指令用于指示所需读写的存储颗粒,以及根据所述读写指令,对所述读写指令指示的存储颗粒进行读写操作;其中,所述存储控制器的接口电路中包括驱动电阻,所述存储颗粒的接口电路中包括终端电阻;所述温度检测单元,用于检测所述存储颗粒的工作温度以及检测所述存储控制器的工作温度;所述电压检测单元,用于检测所述存储颗粒的供电电压以及检测所述存储控制器的供电电压;所述ZQ校准单元,用于在所述存储颗粒的工作温度的变化幅度和或所述存储控制器的工作温度的变化幅度超过设定幅度阈值时,将所述驱动电阻以及所述终端电阻的电阻值校准至基准电阻值;和或,在所述存储颗粒的供电电压和或所述存储控制器的供电电压变化至设定电压区间外时,将所述驱动电阻以及所述终端电阻的电阻值校准至基准电阻值。

全文数据:

权利要求:

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