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申请/专利权人：航天科工防御技术研究试验中心
摘要：本申请提供一种基于ATE的通用源表程控系统及芯片测试方法，所述基于ATE的通用源表程控系统包括ATE测试模块、第一上位机、源表程控自动配置装置以及外接源表模块，通过在源表程控自动配置装置构建兼容不同类型外接源表的SCPI命令集，进而通过通用源表的程控与ATE相结合实现特殊电参数的测试，即通过通用源表程控系统接收ATE机台的IO调用指令，完成不同类型外接源表的程控指令调用及测试数据回传，进而高效地实现特殊电参数测试与激励施加，从而弥补了ATE机台配置资源不足的情况，而且程控系统操作简单，极大降低了工程测试人员搭建程控系统的工作量，显著提升了测试稳定性和可靠性高集成电路测试效率。
主权项：1.一种基于ATE的通用源表程控系统，应用于芯片测试，其特征在于，包括：ATE测试模块、第一上位机、源表程控自动配置装置以及外接源表模块，其中，所述第一上位机为源表程控上位机；所述ATE测试模块分别与所述外接源表模块和所述源表程控自动配置装置连接，用于连接待测芯片，确定所述待测芯片的电测试参数，根据所述电测试参数确定调用指令，并将所述调用指令发送至所述源表程控自动配置装置；所述第一上位机分别与所述ATE测试模块和所述源表程控自动配置装置连接，用于确定所述外接源表，根据所述外接源表确定SCPI命令集，并将所述SCPI命令集发送至所述源表程控自动配置装置；所述源表程控自动配置装置，分别与所述ATE测试模块和所述外源表模块连接，用于接收并存储所述调用指令和所述SCPI命令集，根据所述调用指令和所述SCPI命令集确定SCPI指令，并将所述SCPI指令发送至所述外接源表模块；所述外接源表模块，分别与所述源表程控自动配置装置和所述ATE测试模块，用于接收所述SCPI指令，根据所述SCPI指令对所述待测芯片进行特殊电参数测试，并将测试结果反馈至所述源表程控自动配置装置进行测试结果判断。
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权利要求：
百度查询： 航天科工防御技术研究试验中心 基于ATE的通用源表程控系统及芯片测试方法
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