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申请/专利权人：西安电子科技大学杭州研究院
摘要：本发明公开了一种基于近场平面扫描三维波数域成像的目标RCS测量方法，通过平面宽频带扫描和三维波数域成像获取目标的高分辨率的三维雷达图像，进而反演得到目标的高精度RCS值。在平面扫描合成孔径雷达系统中，包括初始化参数；获取目标散射回波数据；获取目标的三维雷达图像；提取目标的等效散射中心；外推得到目标的远场散射场；用同样的方法对定标体进行测量；定标计算目标的真实RCS。该方法在目标的散射近场进行测量，基于成像机理，成像公式不受合成孔径大小的限制，既能得到目标的三维高分辨率空间散射图像，又能计算出目标在一定空间立体角域内的RCS值，可以更加快速、准确的反映目标的电磁散射特性。
主权项：1.一种基于近场平面扫描三维波数域成像的目标RCS测量方法，其特征在于，包括以下步骤：S101，初始化测量系统参数；S102，采集目标散射回波数据；在二维扫描平面上通过阵元移动，等效合成二维平面阵列，每个阵元通过发射步进频率信号获得三维散射回波数据；S103，对目标回波进行波数域三维高分辨成像处理；对采集到的三维散射回波数据沿观测平面作二维傅里叶变换，得到测量信号的空间谱域数据；构造匹配滤波函数，对信号的空间谱域数据进行匹配滤波；通过Stolt变换得到目标沿三维波数域均匀分布的三维空间波谱；对三维空间波谱作三维逆傅里叶变换，获取目标的三维高分辨率图像；S104，提取目标雷达图像中的等效散射中心；S105，基于散射中心信息外推目标的远场散射场；S106，对定标体进行测量；重复S103-S105，对定标体进行成像处理和外推定标体的远场散射场；S107：根据定标体的远场散射场和定标体的三维RCS理论值，通过定标的方法计算目标的RCS值。
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百度查询： 西安电子科技大学杭州研究院 基于近场平面扫描三维波数域成像的目标RCS测量方法
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