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申请/专利权人：中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
摘要：本申请涉及一种电路门级失效率的分析方法、装置、电子设备及可读介质，其中，方法包括：在检测到目标对象触发目标操作的情况下，调用与目标操作对应的目标模型；对电路系统进行层级分析，并建立与电路系统的层级结构对应的树状图，其中，树状图的各个节点上包括节点上的组件的属性信息；根据目标模型以及属性信息计算树状图上各个层级的失效率；根据树状图以及各个层级的失效率对电路系统进行失效率分析。通过先对电路系统进行层级分析得到树状图，然后对树状图的各层级进行失效率计算，最后综合各层级的失效率进行电路分析，解决了整体失效率难以用来进行层次化的失效率分析的问题。
主权项：1.一种电路门级失效率的分析方法，其特征在于，包括：在检测到目标对象触发目标操作的情况下，调用与所述目标操作对应的目标模型；对电路系统进行层级分析，并建立与所述电路系统的层级结构对应的树状图，其中，所述树状图的各个节点上包括所述节点上的组件的属性信息；根据所述目标模型以及所述属性信息计算所述树状图上各个层级的失效率；根据所述树状图以及所述各个层级的所述失效率对所述电路系统进行失效率分析。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司 电路门级失效率的分析方法、装置、电子设备及可读介质
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