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申请/专利权人:ASML荷兰有限公司
摘要:本公开的实施例涉及用于检测及量测的方法与装置。一种方法,包括:执行仿真以对多个量测目标和或用来测量量测目标的多个量测选配方案进行评价;从经评价的多个量测目标和或量测选配方案中标识一个或多个量测目标和或量测选配方案;接收一个或多个标识的量测目标和或量测选配方案的测量数据;以及使用测量数据来调整量测目标参数或量测选配方案参数。
主权项:1.一种用于在半导体制造工艺中进行检测和量测的方法,包括:通过仿真或根据测得数据对多个量测目标和或用来测量量测目标的多个量测选配方案进行评价;以及从经评价的多个量测目标和或量测选配方案中标识衍射效率或从衍射效率导出的参数跨越阈值的一个或多个量测目标和或量测选配方案。
全文数据:
权利要求:
百度查询: ASML荷兰有限公司 用于检测及量测的方法与装置
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