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基于干涉成像和傅里叶变换的粒子形态识别方法 

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申请/专利权人:天津工业大学;阳泉晋邦科技有限公司

摘要:本发明公开了一种基于干涉成像和傅里叶变换的粒子形态识别方法。本发明的步骤1、搭建干涉粒子成像系统,获取多分散系粒子场的单粒子干涉离焦像;步骤2、对所得干涉离焦像进行对比度增强和中值滤波时域去噪;步骤3、对处理后的图像进行二维傅里叶变换,得到频谱后进行低通滤波;步骤4、对低通滤波后的频谱进行二值化;步骤5、对二值图中的白色像素点进行遍历,若白色像素点的周围八个邻域内还存在白色像素点,统计白色像素整体数目,若为1就是非球形粒子,若大于1就是球形粒子。本发明可以实现多分散系粒子场中粒子形态的识别,为复杂粒子场测量提供技术支持。

主权项:1.一种基于干涉成像和傅里叶变换的粒子形态识别方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:步骤1:搭建干涉粒子成像系统,获取多分散系粒子场的单粒子干涉离焦像;步骤2:对所得干涉离焦像进行对比度增强和中值滤波时域去噪;步骤3:对处理后的图像进行二维傅里叶变换,得到频谱后进行低通滤波;步骤4:对低通滤波后的频谱进行二值化,得到二值图;步骤5:对二值图中的白色像素点进行遍历,若白色像素点的周围八个邻域内还存在白色像素点,就将这些白色像素点标记为一个整体;统计遍历结果中被标记的白色像素整体数目,若为1即为非球形粒子,若大于1即为球形粒子。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 天津工业大学 阳泉晋邦科技有限公司 基于干涉成像和傅里叶变换的粒子形态识别方法

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