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申请/专利权人：华测检测认证集团股份有限公司
摘要：本申请涉及拉曼光检测技术领域，提供一种双波长拉曼检测装置，包括第一激发光源、第一探头模组、第一光谱模组、第二激发光源、第二探头模组、第二光谱模组及样品固定基座，样品固定基座包括遮光底部，以及均设置于遮光底部上且首尾依次连接的第一透光侧部、第二透光侧部、第一反光侧部及第二反光侧部，部分第一激发光线及部分第二激发光线均能够在第一反光侧部及第二反光侧部的反射作用下多次照射测试样品，并且部分第一散射光线及部分第二散射光线也能够在第一反光侧部及第二反光侧部的反射作用下入射至第一光谱模组及第二光谱模组内，提升了第一光谱模组及第二光谱模组所收集到的第一散射光线及第二散射光线强度，进而保障了拉曼光谱成像质量。
主权项：1.一种双波长拉曼光谱检测装置，其特征在于，包括第一激发光源、第一探头模组、第一光谱模组、第二激发光源、第二探头模组、第二光谱模组及样品固定基座，所述样品固定基座包括遮光底部，均设置于所述遮光底部上且首尾依次连接的第一透光侧部、第二透光侧部、第一反光侧部及第二反光侧部，以及设置于所述第一透光侧部、所述第二透光侧部、所述第一反光侧部及所述第二反光侧部远离于所述固定底部一侧的遮光上盖，所述遮光底部、所述第一透光侧部、所述第二透光侧部、所述第一反光侧部及所述第二反光侧部及所述遮光上盖配合围设形成柱形空间；其中，所述柱形空间用于适配固定储纳有测试样品的比色器皿，所述第一激发光源用于发射处于近红外波段的第一激发光线，所述第一激发光线依次通过所述第一探头模组及所述第一透光侧部后入射至所述柱形空间内，并照射位于所述比色器皿中的所述测试样品后产生第一散射光线，所述第一散射光线依次通过所述第一透光侧部、所述第一探头模组后入射至所述第一光谱模组中，所述第二激发光源用于发射处于可见光波段的第二激发光线，所述第二激发光线依次通过所述第二探头模组及所述第二透光侧部后入射至所述柱形空间内，并照射位于所述比色器皿中的所述测试样品后产生第二散射光线，所述第二散射光线依次通过所述第二透光侧部、所述第二探头模组后入射至所述第一光谱模组中。
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权利要求：
百度查询： 华测检测认证集团股份有限公司 双波长拉曼光谱检测装置
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