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申请/专利权人：山东师范大学
摘要：本发明提出一种基于SLM和强散射介质的单击偏振测量系统及方法，方法为：开启光源，调整半波片快轴与四分之一波片快轴之间的夹角，在SLM表面分别入射6个偏振态光束；利用四步相移法对每一偏振态光束测量HSM的传输矩阵；根据传输矩阵计算在CMOS相机上某个具体位置生成聚焦点时对应的共轭入射波前；将6个共轭入射波前进行叠加，得到一个复用共轭波前并编码；将任意偏振光作为入射光穿过HSM，在CMOS相机上同时得到6个聚焦点；根据6个聚焦点的强度，得到偏振入射光的偏振参数。本发明通过空间光调制器和HSM的组合系统实现单次偏振测量，降低使用多个笨重光学元件或多套系统测量的复杂度及成本，提高了偏振测量的速度。
主权项：1.一种基于SLM和强散射介质的单击偏振测量系统，其特征在于，包括预处理模块和单击偏振测量模块：预处理模块包括初步调制光路、测量光路和参考光路，用于得到不同偏振态入射光束的共轭入射波前，将6个共轭入射波前叠加为复用共轭波前，并编码复用共轭波前的复振幅；单击偏振测量模块包括测量光路，用于基于复用共轭波前得到偏振入射光束的偏振参数；其中，初步调制光路，包括同轴依次放置的光源、半波片、四分之一波片、第一4f系统、第一反射镜和第一分束器；所述半波片快轴与四分之一波片快轴之间的夹角可调，用于得到不同偏振态的光束；测量光路，包括同轴依次放置SLM、第二4f系统、第一物镜、HSM、第二物镜、第二分束器、偏振器和CMOS相机；参考光路，包括同轴依次放置第二反射镜和第三反射镜。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 山东师范大学 基于SLM和强散射介质的单击偏振测量系统及方法
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