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申请/专利权人：四川领先微晶玻璃有限公司

摘要：本发明涉及微晶玻璃检测技术领域，具体涉及一种微晶玻璃表面均匀性检测系统。其中，控制芯能够相对控制筒进行滑动。当连通孔将第一配合槽和第二配合槽连通时，控制柱远离连通管的一端抵接于垫块。当第一配合槽和第二配合槽断开时，控制柱远离连通管的一端抵接于凹槽的槽底。检测前，调节定位臂与待测微晶玻璃之间的距离，使接触端与待测微晶玻璃表面相抵，并使连通孔能够将第一配合槽和第二配合槽连通。检测开始后，保持定位臂与待测微晶玻璃之间的间距不变，使接触端沿待测微晶玻璃的表面进行运动，出墨管在待测微晶玻璃的表面留下指示线。指示线中断的位置即为缺陷位置。其能精确地对微晶玻璃进行检测，还能够将缺陷位置精准标出。

主权项：1.一种微晶玻璃表面均匀性检测系统，其特征在于，包括：控制芯、控制筒、供墨组件、出墨管和定位臂；所述控制芯包括同轴固定连接的第一芯体和第二芯体；所述第一芯体远离所述第二芯体的一端端部具有用于与微晶玻璃表面接触的接触端，所述接触端做光滑处理；所述第一芯体开设有连通孔，所述连通孔沿所述第一芯体的径向设置并贯穿所述第一芯体；所述第二芯体的外侧壁开设有凹槽，所述凹槽沿所述第二芯体的轴向延伸，所述凹槽内设置有垫块；所述控制芯可滑动地配合于所述控制筒内，所述控制筒远离所述接触端的一端由封块封闭，所述控制芯和所述封块之间抵接有第一弹性件；所述控制筒安装于所述定位臂；所述控制筒远离所述封块的一端内侧壁开设有第一配合槽和第二配合槽，所述第一配合槽和所述第二配合槽均沿所述控制筒的轴向设置并分设于所述控制筒的内侧壁的相对两侧；所述第一配合槽和所述第二配合槽二者长度相等，在所述控制筒的轴向上，所述第一配合槽和所述第二配合槽二者相齐平；所述控制筒的侧壁还设置有控制管，所述控制管沿所述控制筒的径向设置，所述控制管由所述控制筒的外侧壁贯穿至其内侧壁，所述控制管位于所述第二配合槽靠近所述封块的一侧；所述控制筒的外壁设置有贯穿至所述第一配合槽并与所述第一配合槽连通的输入管，所述输入管与所述供墨组件连通；所述控制筒还设有连通管，所述连通管一端与所述控制管连通，另一端由所述控制筒的外壁贯穿至所述第二配合槽并与所述第二配合槽连通；所述出墨管的进口端与所述第二配合槽连通，所述出墨管的出口端靠近所述接触端设置；当所述接触端与微晶玻璃的表面接触时，所述出墨管的出口端靠近所述微晶玻璃的表面；所述控制管的内壁开设有环形槽，所述环形槽与所述控制管同轴设置，且所述环形槽沿所述控制管的轴向延伸并贯穿至所述控制管靠近所述控制芯的一端端面；所述控制管内滑动配合有控制柱，所述控制柱与所述控制管之间滑动密封，所述控制柱具有环形凸缘，所述环形凸缘和所述环形槽远离所述控制芯的一端之间抵接有第二弹性件；其中，所述控制芯能够相对所述控制筒进行滑动；当所述连通孔将所述第一配合槽和所述第二配合槽连通时，所述控制柱远离所述连通管的一端抵接于所述垫块；当所述第一配合槽和所述第二配合槽断开时，所述控制柱远离所述连通管的一端抵接于所述凹槽的槽底；检测前，调节所述定位臂与待测微晶玻璃之间的距离，使所述接触端与所述待测微晶玻璃表面相抵，并使所述连通孔能够将所述第一配合槽和所述第二配合槽连通；检测开始后，保持所述定位臂与所述待测微晶玻璃之间的间距不变，使所述接触端沿所述待测微晶玻璃的表面进行运动，所述出墨管在所述待测微晶玻璃的表面留下指示线；所述指示线中断的位置即为缺陷位置。

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