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申请/专利权人：宁波法里奥光学科技发展有限公司

摘要：本发明公开了一种镜片折射率测量装置，屈光度测量模块、光学厚度测量模块、共焦反射测量模块、镜片上表面曲率测量模块及被测镜片。所述的屈光度测量模块用于检测被测镜片的屈光度，共焦反射测量模块用于检测被测镜片上下表面共焦反射位置，镜片上表面曲率测量模块用于检测被测镜片上表面曲率，根据以上几方面的数据就能测量得到镜片折射率，无需破坏镜片，操作简单，检测快速，而且适用于普通镜片、非球面镜片、柱面镜等非规则面型镜片折射率测量。本发明的镜片折射率测量方法操作简单，检测快速，测量精度高。

主权项：1.一种基于镜片折射率测量装置的测量方法，其特征在于：所述的镜片折射率测量装置包括屈光度测量模块、光学厚度测量模块、共焦反射测量模块、镜片上表面曲率测量模块及被测镜片；所述的屈光度测量模块包括第一光源模组、第一准直透镜、哈特曼光阑片及第一光电探测器；第一光源模组发出的光经由第一准直透镜后成为平行光束；平行光束经过被测镜片和哈特曼光阑片后射入所述的第一光电探测器内；所述的光学厚度测量模块包括第二光源模组、第二准直透镜、第三光源模组、第三准直透镜、第四光源模组、第四准直透镜、聚焦透镜、第一分光片、第二分光片、第三分光片、第四分光片、反射镜及第二光电探测器；第二光源模组发出的光经由第一分光片和第三分光片反射后进入主光路，再经过第四分光片分成两束，其中一束反射到所述的反射镜，再由所述的反射镜原路反射回来，部分反射光经过第四分光片透射进入第二光电探测器；另外一束光经过第四分光片透射，并被哈特曼光阑片上表面原路反射，反射光经过第四分光片反射后进入第二光电探测器；当由第四分光片反射、透射的两部分光经过反射再同时进入到第二光电探测器，移动反射镜，当第四分光片反射、透射的两部分光经过反射进入第二光电探测器的光程相等时，出现干涉现象；第三光源模组和第四光源模组发出的光同样可以在第二光电探测器内出现干涉现象；所述的共焦反射测量模块包括第五光源、第三光电探测器、Y型光纤、透镜组、移动组件和第五分光片；第五光源发出的光由Y型光纤的第一端口耦合到该Y型光纤中，并由Y型光纤的第二端口射出，所述的第二端口置于透镜组的后焦点上，第二端口射出的光束经过透镜组汇聚；所述的第五分光片设于所述的第四分光片和被测镜片之间，汇聚光再由第五分光片反射在被测镜片处聚焦；所述的第二端口和透镜组均安装于所述的移动组件上，所述的移动组件来回移动，光束可分别在被测镜片的上、下表面聚焦，聚焦时，反射光将原路返回到第二端口处，经光纤传播后，由Y型光纤的第三端口出射到第三光电探测器上；所述的镜片上表面曲率测量模块包括第六光源、第六分光片、成像镜头及第四光电探测器；所述的第六光源发出的光在所述的第六分光片上进行反射进入主光路；进而投射到被测镜片上，被测镜片上表面产生散射光，散射光经由所述的成像镜头汇聚，并在第四光电探测器中聚焦成像；所述的测量方法包括以下步骤：S1、在放入被测镜片前，记录第一光源的光束在第一光电探测器上的分布，并记录第二光源、第三光源和第四光源在第二光电探测器中出现干涉现象时所述的反射镜的位置x02、x03、x04；S2、将被测镜片放入所述的第五分光片和哈特曼光阑片之间，调整被测镜片的位置，直到第一光电探测器监测到被测镜片中心与第一光源的光路中心重合；根据第一光电探测器中光强分布计算被测镜片的屈光度；S3、关闭所述的第一光源，并打开第二光源、第三光源、第四光源和第五光源，匀速移动移动组件，所述的反射镜、透镜组及第二端口同步匀速移动，所述的第二光电探测器记录插入被测镜片后第二光源、第三光源和第四光源的干涉峰位置x12、x13和x14；由第三光电探测器记录被测镜片上下表面共焦反射位置z2和z3；S4、根据x03、x13、z2、z3可计算镜片折射率n2，具体计算公式如下： 其中

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