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申请/专利权人:上海嫦娥光学仪器科技有限公司
摘要:本实用新型公开了一种用于检验微型衬套导轨的结构,包括:底座;导轴,所述导轴固定在底座上;衬套,所述衬套套设在导轴上;导套,所述导套套设在衬套上;配重块,所述配重块套设在导轴顶端上;本实用新型通过配重块穿过导轴,使配重块压到衬套上,检验衬套是否会掉落,采用此结构,不仅能方便质检验标准件的合格率,还可以方便设计人员对标准件提出所需的配合需求,能够更好的为公司筛选出合格的零件。
主权项:1.一种用于检验微型衬套导轨的结构,其特征在于,包括:底座004;导轴001,所述导轴001固定在底座004上;衬套002,所述衬套002套设在导轴001上;导套003,所述导套003套设在衬套002上;配重块005,所述配重块005套设在导轴001顶端上。
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