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申请/专利权人：蓝博测试有限公司
摘要：一种测量装置，用于测量至少一个天线系统110在第一频带和第二频带下的性能。该测量装置包括：外室120，具有被配置成包围天线系统110的向内射频反射壁121；可部署在外室120内部的内室140，该内室140具有被配置成包围天线系统110的射频吸收壁141；第一测试天线装置130，其被布置在外室120内部，并且被配置成用于在第一频带下的测量操作131；以及第二测试天线装置150，其被布置在内室140内部并且被配置成用于在第二频带下的测量操作151，从而使得能够通过第一测试天线装置130测量天线系统110在反射射频环境中的性能，并且通过第二测试天线装置150测量在基本消声的射频环境中的性能。
主权项：1.一种测量装置100，200，250，300，400，800，900，用于测量至少一个天线系统110在第一频带和第二频带下的性能，所述测量装置包括：外室120，具有被配置成包围所述天线系统110的向内射频反射壁121；固定地或可移除地安装在所述外室120内部的内室140，所述内室140具有被配置成包围所述天线系统110的射频吸收壁141；第一测试天线装置130，被布置在所述外室120内部并且被配置成用于在所述第一频带下的测量操作131；以及第二测试天线装置150，150'，被布置在所述外室120内部并且被配置成用于在所述第二频带下的测量操作151，并且其中，当所述第二测试天线装置被布置在所述内室140外部时，所述内室的所述射频吸收壁141中的至少一个具有通往所述外室120中的开口810，并且所述第二测试天线装置150'被配置为具有主瓣151'的定向天线，其中，所述主瓣被布置成指向所述开口810，使得由所述第二测试天线装置150'进行的传输被布置在所述内室140内部，从而使得能够通过所述第一测试天线装置130测量所述天线系统110在反射射频环境中的性能，并且通过所述第二测试天线装置150测量在基本消声的射频环境中的性能，其中，所述射频吸收壁141与第一频带下的射频信号透明度的水平相关联。
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百度查询： 蓝博测试有限公司 改进的天线系统测量装置
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