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摘要：本发明涉及电场测量技术领域，具体的是一种基于电光效应的电场测量分析方法，包括：S1，确定测量时射入的初始光信号；S2，确定初始光信号的传播方向上的角度，将初始光信号按照多个角度射入电光晶体，确定电场方向和大小发生变化时，电场效应的计算值；S3，根据初始光信号的每个传播方向上电场效应的计算值，确定光传播时对应的坐标和路径坐标，将光通过的路径进行叠加；S4，确定路径叠加后出现重叠时每个角度的耦合量，并确定出现重叠和二次折射的影响；S5，根据出现重叠和二次折射的影响，确定初始光信号在叠加时，对应电场的大小和方向的变化，并确定影响电光效应测量的因素。提高了电场测量的准确性和效率。
主权项：1.一种基于电光效应的电场测量分析方法，其特征在于，包括：S1，确定测量时射入的初始光信号；S2，确定初始光信号的传播方向上的角度，将初始光信号按照多个角度射入电光晶体，确定电场方向和大小发生变化时，电场效应的计算值；S3，根据初始光信号的每个传播方向上电场效应的计算值，确定光传播时对应的坐标和路径坐标，将光通过的路径进行叠加；S4，确定路径叠加后出现重叠时每个角度的耦合量，并确定出现重叠和二次折射的影响；S5，根据出现重叠和二次折射的影响，确定初始光信号在叠加时，对应电场的大小和方向的变化，并确定影响电光效应测量的因素。
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