Document
拖动滑块完成拼图
首页 专利交易 科技果 科技人才 科技服务 国际服务 商标交易 会员权益 IP管家助手 需求市场 关于龙图腾
 /  免费注册
到顶部 到底部
清空 搜索

一种X射线荧光光谱法测定高炉渣成分的方法 

买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!

摘要:本发明提供了一种X射线荧光光谱法测定高炉渣成分的方法,涉及化学检测技术领域。X射线荧光光谱法测定高炉渣成分的方法,包括:在坩埚底部铺设助熔剂,将高炉渣样品和氧化剂混合均匀后置于助熔剂上;使高炉渣样品和氧化剂在650‑700℃下进行低温预氧化;熔融,冷却;利用X‑射线荧光光谱仪分析检测高炉渣玻璃熔片。在650‑700℃温度下,高炉渣样品和氧化剂处于助熔剂之上且均为固态,两者之间是固态小颗粒之间的化学反应,没有形成液体,所以高炉渣样品不会通过助熔剂颗粒之间的缝隙漏入到坩埚底部,不会腐蚀坩埚,低温预氧化使高炉渣样品中的硫和部分未还原的金属完全被氧化成氧化态或者气体挥发掉,高温熔融时不会腐蚀坩埚。

主权项:1.一种X射线荧光光谱法测定高炉渣成分的方法,其特征在于,具体包括以下步骤:S1:在坩埚底部铺设助熔剂,将高炉渣样品和氧化剂混合均匀后置于所述助熔剂上,向所述坩埚内加入脱模剂;S2:加热所述坩埚,使所述高炉渣样品和氧化剂在650-700℃下进行低温预氧化;S3:所述坩埚放入融样机中进行熔融,熔融完成后冷却,得到高炉渣玻璃熔片;S4:利用X-射线荧光光谱仪分析检测所述高炉渣玻璃熔片,得到所述高炉渣样品的成分测定结果。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 宁波钢铁有限公司 一种X射线荧光光谱法测定高炉渣成分的方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。