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一种判断走滑断裂后期活动强度方法、装置和电子设备 

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摘要:本发明涉及构造地质学分析,公开了一种判断走滑断裂后期活动强度方法、装置和电子设备。关于方法,其包括:走滑断裂精细解释,明确平面分布特征;膏盐岩变形分析,构造反映膏盐岩变形的图像;AFE属性提取;三图叠合;其中,膏盐岩厚度减薄区、AFE属性平面图裂缝发育区的走滑断裂后期活动相对较强。关于装置,处理模块用于走滑断裂精细解释,明确平面分布特征;分析模块用于膏盐岩变形分析,构造反映膏盐岩变形的图像;计算模块用于AFE属性提取;叠合模块用于三图叠合。上述技术方案,实现了对膏盐岩覆盖区走滑断裂后期活动强度的表征,膏盐岩厚度减薄区、AFE属性平面图裂缝发育区的走滑断裂后期活动相对较强。

主权项:1.一种判断走滑断裂后期活动强度方法,其特征在于,包括:走滑断裂精细解释,明确平面分布特征;膏盐岩变形分析,构造反映膏盐岩变形的图像;AFE属性提取;三图叠合,其中,所述三图为断裂展布图、膏盐岩构造图或厚度图、AFE属性平面图;所述断裂展布图来自所述走滑断裂精细解释,明确平面分布特征;所述膏盐岩构造图或厚度图来自所述膏盐岩变形分析;所述AFE属性平面图来自AFE属性提取;其中,膏盐岩厚度减薄区、AFE属性平面图裂缝发育区的走滑断裂后期活动相对较强。

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