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摘要：本申请涉及智能传感器超声测厚技术领域，具体涉及一种O型圈的尺寸高精度测量方法及系统，该方法包括：根据O型圈上每个扫描点的各回波包络的基频与超声脉冲信号的频率的差异，结合包络相似度以及O型圈上每个扫描点的各回波包络与其他扫描点中对应次序相同的回波包络在时间上的差异，确定O型圈上每个扫描点的各回波包络的包络评价因子，以对O型圈的尺寸进行测量。本申请通过分析单个扫描点上回波包络的时域形态学相似性特征和频域基频差异特征，以及多径效应引起的回波包络在时间区间上的关联特征，提高对O型圈内圈回波包络的识别准确度及对O型圈截径进行测量的精度。
主权项：1.一种O型圈的尺寸高精度测量方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：获取O型圈上每个扫描点经超声脉冲信号反射后的所有反射脉冲信号，并利用包络检测法，提取O型圈上每个扫描点的所有反射脉冲信号中的回波包络；根据O型圈上每个扫描点的各回波包络的光滑程度，以及各回波包络与第一个回波包络中反射脉冲信号的差异，确定O型圈上每个扫描点的各回波包络的包络相似度；获取O型圈上每个扫描点的各回波包络的基频及超声脉冲信号的频率，根据O型圈上每个扫描点的各回波包络的基频与超声脉冲信号的频率的差异，结合所述包络相似度，确定O型圈上每个扫描点的各回波包络的回波置信度；根据O型圈上每个扫描点的各回波包络与其他扫描点中对应次序相同的回波包络在时间上的差异，结合所述回波置信度，确定O型圈上每个扫描点的各回波包络的包络评价因子；基于O型圈上每个扫描点的所有回波包络的包络评价因子，结合每个扫描点接收到第一个回波包络的时间及速度，确定O型圈上每个扫描点的截径；基于O型圈上所有扫描点的截径的最大值及最小值对O型圈的尺寸进行测量。
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