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摘要：通过扫描链读出与集成电路的操作条件相关的传感器数据。对含有实施逻辑功能的逻辑电路的集成电路运行扫描测试。所述逻辑电路互连以形成在运行所述扫描测试时使用的扫描链。通过这些扫描链从所述逻辑电路读出由所述扫描测试产生的扫描测试数据。在所述扫描测试期间，传感器块捕获针对所述逻辑电路的所述操作条件的测量。举例来说，所述操作条件可包含处理条件、电压条件及或温度条件。所述传感器块也互连以形成一或多个扫描链，且与所述读出所述扫描测试数据并发地，通过这些扫描链读出从所述经捕获测量产生的传感器数据。
主权项：1.一种方法，其包括：对含有逻辑电路的集成电路运行扫描测试；其中所述逻辑电路互连以形成一或多个逻辑扫描链，且运行所述扫描测试包括通过所述逻辑扫描链从所述逻辑电路移出扫描测试数据；及从所述集成电路上的传感器块移出传感器数据，所述传感器块在所述扫描测试期间捕获针对所述逻辑电路的操作条件的测量且从所述经捕获测量产生所述传感器数据；其中所述传感器块互连以形成一或多个传感器扫描链，且与所述通过所述逻辑扫描链移出所述扫描测试数据并发地，通过所述传感器扫描链移出所述传感器数据。
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百度查询： 新思科技有限公司 在扫描测试期间使用扫描链从集成传感器读出数据
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