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摘要：本申请公开了一种天线测试治具，该天线测试治具包括：底座，包括配置为放置待测物的第一区；上盖，包括贯穿上盖的一开口，开口设置于第一区的投影方向上方以使第一区被暴露出来；其中，开口的宽度沿着远离第一区的方向渐增。至少可解决现有天线测试治具在天线辐射路径造成阻碍而导致天线特性测试结果有偏差的问题。
主权项：1.一种天线测试治具，其特征在于，包括：底座，包括配置为放置待测物的第一区；上盖，包括贯穿所述上盖的一开口，所述开口设置于所述第一区的投影方向上方以使所述第一区被暴露出来；其中，所述开口的宽度沿着远离第一区的方向渐增。
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百度查询： 日月光半导体制造股份有限公司 天线测试治具
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