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申请/专利权人:无锡市华辰芯光半导体科技有限公司
申请日:2024-11-29
公开(公告)日:2024-12-31
公开(公告)号:CN119231308A
专利技术分类:..涂层[2006.01]
专利摘要:本申请涉及半导体激光器的技术领域,尤其是涉及一种高可靠性低噪声垂直激光器的制备工艺及结构,选用晶格方向为[100]2‑15°偏[110]的衬底;在衬底的层结构上刻蚀两个弧形沟槽,两个弧形沟槽的端部之间形成开口,且开口方向沿晶向[001];对氧化限制层进行氧化,两个弧形沟槽中间形成类圆形的氧化孔;将钝化保护膜覆盖在开口处及器件表面;填充开口,通过开口位置连接金属圆环,将P极电流注入点引至外围区域;将发光区顶部的表面钝化层刻蚀出短、长轴比为1:1‑1:2的椭圆浮雕。开口设计朝向[001]晶格方向,器件最终氧化形状为类圆形,提高可靠性。将表面钝化膜刻蚀出椭圆浮雕,降低相对强度噪声,有效提高传输质量。
专利权项:1.一种高可靠性低噪声垂直激光器的制备工艺,其特征在于:包括,S1、选用晶格方向为[100]2-15°偏[110]的衬底(1);S2、在衬底(1)的层结构上刻蚀有两个正对的弧形沟槽(14),两个弧形沟槽(14)的端部之间形成有开口(15),且开口(15)方向沿晶向[001];S3、对层结构内的氧化限制层(7)进行氧化,两个弧形沟槽(14)中间形成类圆形的氧化孔(16);S4、将钝化保护膜覆盖在开口处及器件表面形成表面钝化层(11);S5、填充开口(15)形成介质填充层(10),同时通过开口(15)位置连接金属圆环,将P极电流注入点引至外围区域形成P面欧姆接触层(12);S6、将发光区顶部的表面钝化层(11)刻蚀出短、长轴比为1:1-1:2的椭圆浮雕形成偏振控制层(13)。
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