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一种人工智能芯片异地封闭性测试的系统专利

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申请/专利权人:上海智能算力科技有限公司;上海交通大学

申请日:2024-12-06

公开(公告)日:2025-01-03

公开(公告)号:CN119248595A

专利技术分类:.在准备运算或者在空闲时间期间内,通过测试作故障硬件的检测或定位[2006.01]

专利摘要:本发明公开了一种人工智能芯片异地封闭性测试的系统,属于芯片测试技术领域;包括测试集管理模块,用于根据测试需求生成定制化测试集;智能网关模块,用于监控机房和测试房的网络连接状态,测试房内设有测试终端设备;智能测试模块,连接测试集管理模块和智能网关模块,测试终端设备按照定制化测试集对人工智能芯片进行分析,生成测试报告后输出。上述技术方案的有益效果是:实现在企业内部远程测试芯片,满足业务和技术的保密性要求,降低了国产芯片适配测试的成本,增强适配测试的安全性。

专利权项:1.一种人工智能芯片异地封闭性测试的系统,其特征在于,包括,测试集管理模块,用于根据测试需求生成定制化测试集;智能网关模块,用于监控机房和测试房的网络连接状态,所述测试房内设有测试终端设备;智能测试模块,连接所述测试集管理模块和所述智能网关模块,所述测试终端设备按照所述定制化测试集对人工智能芯片进行分析,生成测试报告后输出。

百度查询: 上海智能算力科技有限公司 上海交通大学 一种人工智能芯片异地封闭性测试的系统

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