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申请/专利权人：西安聚能超导线材科技有限公司
申请日：2024-12-20
公开（公告）日：2025-01-21
公开（公告）号：CN119338817A
专利技术分类：
专利摘要：本申请公开了一种基于图像识别NbTiCu超导线材的铜比测试系统及方法，该方法包括如下步骤：S1：采集样品NbTiCu超导线材截面的金相图像数据和通过密度法获取真实铜比；S2：根据二值化图像的像素点数量，得到计算铜比：S3：将金相图像数据、真实铜比和计算铜比作为数据集，利用数据集训练支持向量回归模型；S4：获取待测试NbTiCu超导线材的截面图像，截面图像和截面图像经S2得到的计算铜比输入S3支持向量回归模型中，获得实际铜比。本申请属于超导复合线材领域，本申请解决了目前铜比测试方法中剪纸法效率低、铜比结果不准确以及密度法操作过程繁琐的问题。本申请保证了铜比测试的准确性，又提高了效率。
专利权项：1.一种基于图像识别NbTiCu超导线材的铜比测试方法，其特征在于，包括如下步骤：S1：采集样品NbTiCu超导线材截面的金相图像数据和通过密度法获取的真实铜比；所述金相图像数据通过以下方法获取：S11：从样品NbTiCu超导线材上取样，采集NbTiCu超导线材金相截面的彩色图像；S12：对所述彩色图像进行预处理；随后对预处理后的所述彩色图像进行灰度变换，将灰度图像通过阈值处理再次转化为二值化图像；所述二值化图像为所述金相图像数据；S2：根据所述二值化图像中铜区（2）、超导区（3）和背景区（1）像素点数量，利用公式（1）得到计算铜比； （1）其中，为所述计算铜比，为铜区（2）的像素点数量，为背景区（1）的像素点数量，为超导区（3）的像素点数量，M为所述二值化图像水平方向像素点数量，N为所述二值化图像垂直方向像素点数量；S3：将S1中金相图像数据、所述真实铜比以及所述计算铜比作为数据集，利用所述数据集训练支持向量回归模型；S4：获取待测试NbTiCu超导线材的截面图像，所述截面图像和所述截面图像经S2处理得到的计算铜比输入所述S3训练的支持向量回归模型中，获得实际铜比。
百度查询： 西安聚能超导线材科技有限公司 一种基于图像识别NbTi/Cu超导线材的铜比测试系统及方法
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