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申请/专利权人：深圳市朝汇智造技术有限公司
申请日：2024-12-25
公开（公告）日：2025-01-24
公开（公告）号：CN119354986A
专利技术分类：..测试瑕疵、缺陷或污点的存在[2006.01]
专利摘要：本申请涉及LED测试领域，提供一种分光机球头底测装置，包括分度盘、缺陷检测组件、第一定位组件、第二定位组件和测试组件；分度盘上沿周向均匀间隔设有多个用于放置工件的放置台，分度盘能够沿自身轴线方向旋转，从而使位于放置台的工件移动至测试工位；缺陷检测组件用于在工件到达测试工位之前对其进行缺陷检测；第一定位组件用于对进行视觉检测的工件进行夹持限位；测试组件包括底测模块和积分球，底测模块用于与处于测试工位的工件接触，并使工件发光；积分球用于对发光的工件进行测试；第二定位组件用于对处于测试工位的工件进行夹持限位。本申请解决了工件无法精确定位的问题。
专利权项：1.一种分光机球头底测装置，其特征在于，包括：分度盘（1），所述分度盘（1）上沿周向均匀间隔设有多个用于放置工件（200）的放置台（11），所述分度盘（1）能够沿自身轴线方向旋转，从而使位于所述放置台（11）的所述工件（200）移动至测试工位；缺陷检测组件（2），用于在所述工件（200）到达所述测试工位之前对其进行缺陷检测；第一定位组件（3），用于对进行视觉检测的所述工件（200）进行夹持限位；测试组件（5），包括底测模块（51）和积分球（52），所述底测模块（51）用于与处于所述测试工位的所述工件（200）接触，并使所述工件（200）发光；所述积分球（52）用于对发光的所述工件（200）进行测试；第二定位组件（4），用于对处于所述测试工位的所述工件（200）进行夹持限位。
百度查询： 深圳市朝汇智造技术有限公司 分光机球头底测装置
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