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一种提升钽酸锂晶片电导率的黑化处理工艺专利

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申请/专利权人:湖南工程学院;湖南科鑫泰电子科技有限公司

申请日:2024-12-31

公开(公告)日:2025-02-07

公开(公告)号:CN119392379A

专利技术分类:.热处理(C30B33/04、C30B33/06优先)[2006.01]

专利摘要:本发明公开了一种钽酸锂晶片电导率的黑化处理工艺,属于晶体材料技术领域,所述的钽酸锂晶片电导率的黑化处理工艺,包括以下步骤:将复合还原剂平铺于坩埚底部,形成底部还原剂层,将钽酸锂晶片放在底部还原剂层上方,再将复合还原剂平铺于钽酸锂晶片上方,形成顶部还原剂层;通入氮气进行热处理,取出,得到黑化处理的钽酸锂晶片;所述复合还原剂包括质量比为1:(0.1~0.2):(0.5~2)的球形铜粉、改性石墨烯和片状铜粉。一种钽酸锂晶片电导率的黑化处理工艺,本发明所述的黑化处理工艺能够显著的降低钽酸锂晶片的电阻率,提高钽酸锂晶片的电导率,具有广泛的应用前景。

专利权项:1.一种提升钽酸锂晶片电导率的黑化处理工艺,其特征在于,包括以下步骤:将复合还原剂平铺于坩埚底部,形成底部还原剂层,将钽酸锂晶片放在底部还原剂层上方,再将复合还原剂平铺于钽酸锂晶片上方,形成顶部还原剂层;通入氮气进行热处理,取出,得到黑化处理的钽酸锂晶片;所述复合还原剂包括质量比为1:(0.1~0.2):(0.5~2)的球形铜粉、改性石墨烯和片状铜粉。

百度查询: 湖南工程学院 湖南科鑫泰电子科技有限公司 一种提升钽酸锂晶片电导率的黑化处理工艺

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