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龙图腾网恭喜成都云绎智创科技有限公司申请的专利一种射频芯片测试设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN112114241B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202010843749.8，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种射频芯片测试设备是由窦国珍;罗伟设计研发完成，并于2020-08-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种射频芯片测试设备在说明书摘要公布了：本发明公开了一种射频芯片测试设备，包括限位装置，所述限位装置用于对待测试芯片进行限位；高度位置检测装置，所述高度位置检测装置用于检测待测试芯片的高度误差值；水平位置检测装置，所述水平位置检测装置用于检测待测试芯片的水平位置；微针座，所述微针座上设置有用于连接待测试芯片的微针；第一运动机构，所述微针座设置在第一运动机构上；测试系统，所述测试系统与微针连接，所述测试系统用于通过微针对待测试芯片进行测试。具有采用机械定位及下针，定位精度高，下针准确度更高，对测试人员要求低，测试效率更高的优点。

本发明授权一种射频芯片测试设备在权利要求书中公布了：1.一种射频芯片测试设备，其特征在于，包括：限位装置，所述限位装置用于对待测试芯片进行限位；高度位置检测装置，所述高度位置检测装置设置在限位装置的外侧，所述高度位置检测装置用于检测待测试芯片的高度误差值；水平位置检测装置，所述水平位置检测装置用于检测待测试芯片的水平位置；微针座，所述微针座上设置有用于连接待测试芯片的微针；第一运动机构，所述微针座设置在第一运动机构上，所述第一运动机构用于驱动微针座根据高度位置检测装置检测出的高度误差值和水平位置检测装置检测出的水平位置进行微针连接；测试系统，所述测试系统与微针连接，所述测试系统用于通过微针对待测试芯片进行测试；所述限位装置包括真空盘和限位框，所述限位框设置在真空盘上，所述真空盘上设置有真空吸附口，所述限位框上设置有限位口，所述限位口的形状和待测试芯片的形状相匹配，所述限位口的位置和真空吸附口的位置相匹配；所述高度位置检测装置包括激光发生器和激光接收器；所述水平位置检测装置包括显微镜视觉系统；还包括第二运动机构，所述显微镜视觉系统设置在第二运动机构上，所述第二运动机构用于驱动显微镜视觉系统进行位置调整。

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