恭喜电子科技大学(深圳)高等研究院戴志坚获国家专利权
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龙图腾网恭喜电子科技大学(深圳)高等研究院申请的专利一种基于ATE的SIP芯片内部互连测试方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115453324B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-04发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211160853.2,技术领域涉及:G01R31/28;该发明授权一种基于ATE的SIP芯片内部互连测试方法是由戴志坚;杨万渝;李荣杰设计研发完成,并于2022-09-22向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于ATE的SIP芯片内部互连测试方法在说明书摘要公布了:本发明提出一种基于ATE的SIP芯片内部互连测试方法,所述测试方法包括如下步骤:步骤S1、SVF编写互连测试程序;步骤S2、将编写好的SVF程序解析成模式捕获格式文件;步骤S3、将模式捕获格式文件中符合JTAG总线时序的向量进行处理;步骤S4、将获得的测试时序移植到ATE测试系统中,根据SIP芯片中互联模型的具体形式进行互连测试。本发明可以针对SIP芯片与ATE系统之间的不同互连模型,高效快捷地生成JTAG总线测试时序,提升测试效率。
本发明授权一种基于ATE的SIP芯片内部互连测试方法在权利要求书中公布了:1.一种基于ATE的SIP芯片内部互连测试方法,其特征在于,所述测试方法包括如下步骤:步骤S1、SVF编写互连测试程序;步骤S2、将编写好的SVF程序解析成模式捕获格式文件;步骤S3、将模式捕获格式文件中符合JTAG总线时序的向量进行处理;步骤S4、将获得的测试时序移植到ATE测试系统中,根据SIP芯片中互联模型的具体形式进行互连测试。
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