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龙图腾网恭喜上海灿瑞科技股份有限公司;浙江恒拓电子科技有限公司申请的专利用于3D平面霍尔芯片的磁通量测试装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN111036579B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202010028101.5，技术领域涉及：B07C5/34；该发明授权用于3D平面霍尔芯片的磁通量测试装置是由请求不公布姓名;请求不公布姓名设计研发完成，并于2020-01-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本用于3D平面霍尔芯片的磁通量测试装置在说明书摘要公布了：本发明提供一种用于3D平面霍尔芯片的磁通量测试装置，包括：安装在第一工位的2D磁通量测试装置，包括：第一测试夹具，用于放置待测芯片；可旋转的线圈基座，环绕于第一测试夹具设置；彼此平行的双线圈，设于线圈基座上；第一金手指，与第一测试夹具电连接；齿轮，设于线圈基座和第一测试支架之间；和磁性开关，通过皮带与齿轮连接；以及安装在第二工位的Z轴磁通量测试装置，包括：第二测试夹具；单线圈，环绕设置于第二测试夹具上；和第二金手指。本发明的用于3D平面霍尔芯片的磁通量测试装置通过一次机械手的送料同时完成三个轴向的磁通量测试，并避免芯片无法运送到测试夹具的问题，而不需要重新上分选机再测一次，提高了测试效率。

本发明授权用于3D平面霍尔芯片的磁通量测试装置在权利要求书中公布了：1.一种用于3D平面霍尔芯片的磁通量测试装置10，其安装于一封装测试分选机300上，所述封装测试分选机300包括工作台301和位于工作台301上方的转盘302，转盘302上设有多个沿其圆周均匀分布的吸嘴303，在测试时，其中两个吸嘴303分别对准所述工作台301的第一工位和第二工位，其特征在于，包括：一2D磁通量测试装置10a，其安装在所述第一工位处，包括：第一测试夹具3，用于放置待测芯片；可旋转的线圈基座5，环绕于所述第一测试夹具3设置；一组彼此平行的双线圈6，设于所述线圈基座5上；第一金手指7，与所述第一测试夹具3电连接；齿轮51，设于所述线圈基座5和第一测试支架2之间且固定于所述线圈基座5底部；和磁性开关53，其通过一皮带52与所述齿轮51连接；以及一Z轴磁通量测试装置10b，其安装在所述第二工位处，包括：第二测试夹具203，用于放置待测芯片；单线圈206，环绕设置于所述第二测试夹具203上；和第二金手指207，与所述第二测试夹具203电连接。

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