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龙图腾网恭喜无锡锐恩科技有限公司申请的专利一种基于X射线的工业部件缺陷检测方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119338835B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411908165.9，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种基于X射线的工业部件缺陷检测方法及系统是由张丽娜;李凯设计研发完成，并于2024-12-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于X射线的工业部件缺陷检测方法及系统在说明书摘要公布了：本发明提供一种基于X射线的工业部件缺陷检测方法及系统，涉及材料分析技术领域，方法包括：获取待检测工业部件的X射线图像；提取所述X射线图像的颜色特征与纹理特征；根据提取到的颜色特征以及纹理特征，构建特征向量；根据各个像素点的特征向量，确定各个像素点的异常值；根据各个像素点的异常值，基于阈值分割，对所述待检测工业部件进行缺陷检测，确定所述待检测工业部件的缺陷位置。本发明无需进行负载训练，计算过程简单，节省时间且计算成本低，有利于工业部件的批量检测，缺陷检测效率高。

本发明授权一种基于X射线的工业部件缺陷检测方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于X射线的工业部件缺陷检测方法，其特征在于，包括：S1：获取待检测工业部件的X射线图像；S2：提取所述X射线图像的颜色特征与纹理特征；S3：根据提取到的颜色特征以及纹理特征，构建特征向量；S4：根据各个像素点的特征向量，确定各个像素点的异常值；S5：根据各个像素点的异常值，基于阈值分割，对所述待检测工业部件进行缺陷检测，确定所述待检测工业部件的缺陷位置；其中，所述颜色特征包括：对比度、熵值以及灰度平均值；所述纹理特征包括：局部核回归纹理特征；其中，所述纹理特征的提取方式具体包括：通过局部核回归方式，提取所述X射线图像的纹理特征：Fi＝exp[-Xj-XiTCjXj-Xi]其中，Fi表示第i个像素点处的局部核回归纹理特征，exp表示以自然常数为底的指数函数，Xj表示局部窗口中的第j个像素点的位置坐标，Xi表示局部窗口中的第i个像素点的位置坐标，T表示矩阵转置运算，Cj表示局部窗口内的第j个像素点处的梯度协方差矩阵，j∈[1,…,n]，n表示局部窗口内的像素总数；所述梯度协方差矩阵具体为： 其中，表示沿水平方向的一阶灰度导数，表示沿竖直方向的一阶灰度导数，Ωi表示以第i个像素点为中心的局部窗口；其中，所述S5具体为：当像素点的异常值大于预设异常值且局部方差小于预设方差值时，确定当前像素点所在位置为缺陷位置。

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