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龙图腾网恭喜光芯薄膜(深圳)有限公司申请的专利不透明介质薄膜的光学常数确定方法及相关产品获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118294416B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410511971.6，技术领域涉及：G01N21/55；该发明授权不透明介质薄膜的光学常数确定方法及相关产品是由张志岳;郭杏元;曹永盛设计研发完成，并于2024-04-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本不透明介质薄膜的光学常数确定方法及相关产品在说明书摘要公布了：本申请实施例公开了一种不透明介质薄膜的光学常数确定方法及相关产品，方法包括：利用测量光以第一预设角度范围通过第一入射介质层测量待测材料的反射率，得到第一反射率，并获取第一入射介质层的第一光学折射率，根据第一反射率、第一光学折射率、待测材料的目标光学折射率和目标消光系数构造第一方程式；利用测量光以第二预设角度范围通过第二入射介质层测量待测材料的反射率，得到第二反射率，并获取第二入射介质层的第二光学折射率，根据第二反射率、第二光学折射率、目标光学折射率和目标消光系数构造第二方程式；联立第一方程式和第二方程式确定目标反射率和目标消光系数。采用本申请实施例能够提升薄膜的光学常数的标定效率。

本发明授权不透明介质薄膜的光学常数确定方法及相关产品在权利要求书中公布了：1.一种不透明介质的光学常数确定方法，其特征在于，所述方法包括：利用测量光以第一预设角度范围通过第一入射介质层测量待测材料的反射率，得到第一反射率，并获取所述第一入射介质层的第一光学折射率，根据所述第一反射率、所述第一光学折射率、所述待测材料的目标光学折射率和目标消光系数构造第一方程式；所述待测材料包括不透明介质薄膜；利用所述测量光以第二预设角度范围通过第二入射介质层测量所述待测材料的反射率，得到第二反射率，并获取所述第二入射介质层的第二光学折射率，根据所述第二反射率、所述第二光学折射率、所述目标光学折射率和所述目标消光系数构造第二方程式；联立所述第一方程式和所述第二方程式确定所述目标反射率和所述目标消光系数；其中，所述根据所述第一反射率、所述第一光学折射率、所述待测材料的目标光学折射率和目标消光系数构造第一方程式，包括：按照如下方式构造所述第一方程式： 其中，R1表示所述第一反射率，n0表示所述第一光学折射率，nx表示所述目标光学折射率，kx表示所述消光系数；所述根据所述第二反射率、所述第二光学折射率、所述目标光学折射率和所述目标消光系数构造第二方程式，包括：按照如下方式构造所述第二方程式： 其中，R1′表示所述第二反射率，n0′表示所述第二光学折射率，nx表示所述目标光学折射率，kx表示所述消光系数。

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