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龙图腾网恭喜中国科学院高能物理研究所;四川天府新区宇宙线研究中心申请的专利一种测量空气中任意材料反射率的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114646614B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111445194.2，技术领域涉及：G01N21/47；该发明授权一种测量空气中任意材料反射率的方法是由李秀荣;陈明君;肖刚设计研发完成，并于2021-11-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种测量空气中任意材料反射率的方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种测量空气中任意材料反射率的方法，其步骤包括：1选取一内壁为高反射材料且存在一开口的探测器，并通过内壁上微孔设置一信号采集器和光源，将探测器放置于纯净空气避光环境里；2利用选取的脉冲光源在探测器里照射，用信号采集器采集光信号大小随时间变化的波形，根据所采集信号波形拟合得到光子在所述探测器中的有效衰减长度λ1；3将所述开口处覆盖上待测材料，利用所述光源在所述探测器里照射，用所述信号采集器采集光信号波形，根据所采集信号波形拟合得到光子在所述探测器中的有效衰减长度λ2；4根据所述探测器的尺寸和所述开口的尺寸以及λ1、λ2计算所述待测材料的反射率f2。本发明比现有测量方法操作简单、原理新颖，具有很强的应用价值。

本发明授权一种测量空气中任意材料反射率的方法在权利要求书中公布了：1.一种测量空气中任意材料反射率的方法，其步骤包括：1选取一内壁为高反射材料且存在一开口的探测器，并通过内壁上微孔设置一信号采集器和光源，将探测器放置在纯净空气避光环境里；2利用选取的脉冲光源在所述探测器里照射，用所述信号采集器采集光信号波形，根据所采集光信号波形拟合得到光子在所述探测器中的有效衰减长度λ1；3将所述开口处覆盖上待测材料，利用所述光源在所述探测器里照射，用所述信号采集器采集光信号波形，根据所采集光信号波形拟合得到光子在所述探测器中的有效衰减长度λ2；4根据所述探测器的尺寸和所述开口的尺寸以及λ1、λ2，通过公式计算所述待测材料的反射率f2；其中，r为所述开口的面积占所述探测器的内壁面积的比例，L为所述光源发出的信号光在所述探测器内的单次反射平均光程；根据4*探测器内体积探测器内部总面积计算得到所述单次反射平均光程L。

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