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龙图腾网恭喜深圳市一鑫研创科技有限公司申请的专利一种芯片测试系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119170590B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411668548.3，技术领域涉及：H01L23/48；该发明授权一种芯片测试系统是由李世伟;吴志伟;张昕设计研发完成，并于2024-11-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片测试系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种芯片测试系统，属于芯片技术领域，包括芯片主体，芯片主体包括芯片封装体、针脚导线体和芯片核心体，芯片核心体包括芯片模块，芯片模块底部均匀设置有针脚触柱，针脚导线体包括内导体和外缓冲体，芯片封装体包括封装基座、封装芯片座和与封装芯片座连接的封装盖体，封装盖体通过组合体与封装芯片座连接。本发明针对芯片进行设计，通过芯片封装体对芯片进行承载组合，通过针脚导线体将针脚触柱通过内导体与针脚触点接触，保证信号接通效果，设置在外部的用于绝缘的外缓冲体还能实现对不同的针脚触柱设置独立的空间，避免在导电性异物的作用下出现针脚触柱错接的情况出现，保证芯片接线的可靠性。

本发明授权一种芯片测试系统在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括芯片主体和设置在测试台上的测试座（15），所述芯片主体包括芯片封装体、针脚导线体和芯片核心体，所述芯片核心体包括芯片模块（1），所述芯片模块（1）底部均匀设置有针脚触柱（2），所述针脚导线体包括内导体（3）和外缓冲体（4），所述芯片封装体包括封装基座（5）、封装芯片座（6）和与封装芯片座（6）连接的封装盖体（7），所述封装盖体（7）通过组合体（8）与封装芯片座（6）连接；所述测试座（15）上方设置有与针脚触柱（2）数量相适配的检测体，所述测试座（15）一侧设置有电动推杆（16），所述电动推杆（16）输出端通过联控驱动件驱动检测体与针脚触柱（2）进行接触，所述检测体包括检测盘（17）和设置在检测盘（17）四周的弧形导电金属体（18）；所述测试座（15）内部开设有空腔，所述检测盘（17）通过贯穿至空腔内的转轴连接有转动齿轮（19），所述联控驱动件包括与电动推杆（16）输出端固定连接的联控推板（20），所述联控推板（20）固定连接有多个驱动齿杆（21），所述驱动齿杆（21）分别与两侧的转动齿轮（19）啮合连接。

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