北京海维尔科技发展有限公司丁伟获国家专利权
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龙图腾网获悉北京海维尔科技发展有限公司申请的专利一种半导体激光器检验装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN222800323U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-25发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202421809100.4，技术领域涉及：G01M11/02；该实用新型一种半导体激光器检验装置是由丁伟;戴金艳设计研发完成，并于2024-07-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种半导体激光器检验装置在说明书摘要公布了：本实用新型提供了一种半导体激光器检验装置，其包括控制单元、光学模块单元和光电二极管单元；控制单元包括控制器和供电电源，控制器与带有软件端的PC端通信连接；光学模块单元包括结构外框，结构外框底部设有对其控温的TEC半导体片且上方设有温度传感器，结构外框内部设有待测激光器和滤波片，滤波片位于待测激光器正前方；光电二极管单元包括管座，管座上设有光电二极管；待测激光器、滤波片、光电二极管的感应面中心均位于同一测试光路的光轴中；控制器另与温度传感器、TEC半导体片、待测激光器、光电二极管通信连接。
本实用新型一种半导体激光器检验装置在权利要求书中公布了：1.一种半导体激光器检验装置，其特征在于，包括控制单元100、光学模块单元200和光电二极管单元300；所述控制单元100包括控制器101和供电电源102，所述控制器101与带有软件端的PC端500通信连接；所述光学模块单元200包括结构外框205，所述结构外框205底部设有对其控温的TEC半导体片202且上方设有温度传感器201，所述结构外框205内部设有待测激光器203和滤波片204，所述滤波片204位于所述待测激光器203正前方；所述光电二极管单元300包括管座302，所述管座302上设有光电二极管301；所述待测激光器203、滤波片204、光电二极管301的感应面中心均位于同一测试光路的光轴中；所述控制器101另与温度传感器201、TEC半导体片202、待测激光器203、光电二极管301通信连接。
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