恭喜株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社马笼贵弘获国家专利权
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龙图腾网恭喜株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社申请的专利磁盘装置的制造方法及磁盘装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115841827B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-06发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210106000.4,技术领域涉及:G11B21/02;该发明授权磁盘装置的制造方法及磁盘装置是由马笼贵弘;山下哲;青木隆浩设计研发完成,并于2022-01-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本磁盘装置的制造方法及磁盘装置在说明书摘要公布了:提供用于高效地记录辅助伺服图案的磁盘装置的制造方法及能够高效地记录辅助伺服图案的磁盘装置。制造方法包括进行第1记录面中的磁头的间隙的初始值的分布的推定;和一边进行使用了推定出的间隙的初始值的分布的间隙的控制、一边向第1记录面记录第1螺旋信号。制造方法包括在使用了记录于第1记录面的第1螺旋信号的定位控制下测定第2记录面中的磁头的间隙的初始值的分布。制造方法包括一边使用测定出的第2记录面中的磁头的间隙的初始值的分布来进行间隙的控制、一边向第2记录面记录第1螺旋信号。制造方法包括在使用了记录于第2记录面的第1螺旋信号的定位控制下向第3记录面记录第2螺旋信号。
本发明授权磁盘装置的制造方法及磁盘装置在权利要求书中公布了:1.一种磁盘装置的制造方法,所述磁盘装置具备:多个磁盘,一体地进行旋转,具有多个记录面;及多个磁头,在所述多个磁盘的半径方向上一体地移动,与所述多个记录面对应,所述制造方法包括:测定所述多个记录面中的空白的第1记录面与所述多个磁头中的与所述第1记录面对应的第1磁头之间的第1位置处的间隙的初始值;基于测定出的所述第1记录面的所述第1位置处的间隙的初始值来推定第1分布,所述第1分布是所述第1记录面与所述第1磁头之间的间隙的初始值的所述半径方向上的分布;一边使用推定出的所述第1分布即第1数据来控制所述第1记录面与所述第1磁头之间的间隙、一边使用所述第1磁头向所述第1记录面记录多个第1螺旋信号;在使用了记录于所述第1记录面的所述多个第1螺旋信号的定位控制下,测定第2分布,所述第2分布是所述多个记录面中的与所述第1记录面不同的空白的第2记录面与所述多个磁头中的与所述第2记录面对应的第2磁头之间的间隙的初始值的所述半径方向上的分布;一边使用测定出的所述第2分布来控制所述第2记录面与所述第2磁头之间的间隙、一边使用所述第2磁头向所述第2记录面记录所述多个第1螺旋信号;以及在使用了记录于所述第2记录面的所述多个第1螺旋信号的定位控制下,向所述多个记录面中的与所述第1记录面及所述第2记录面都不同的第3记录面,使用所述多个磁头中的与所述第3记录面对应的第3磁头来记录多个第2螺旋信号。
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