洪启集成电路(珠海)有限公司范金铖获国家专利权
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龙图腾网获悉洪启集成电路(珠海)有限公司申请的专利一种二次离子质谱曲线分层位置点的自动计算方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN118378020B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-16发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202410497724.5,技术领域涉及:G06F18/10;该发明授权一种二次离子质谱曲线分层位置点的自动计算方法是由范金铖;请求不公布姓名;袁元;高玉民;张启华;何顶新;蒋军浩设计研发完成,并于2024-04-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种二次离子质谱曲线分层位置点的自动计算方法在说明书摘要公布了:本发明涉及一种二次离子质谱曲线分层位置点的自动计算方法,包括以下步骤:S1:收集二次离子质谱测定样品的曲线原始数据并预处理所述原始数据;S2:识别并提取经所述S1步骤预处理后的数据的关键特征位置点;S3:根据所述S2步骤提取的关键特征位置点使用自动设定算法计算阈值,大于所述阈值的位置点为所述样品的分层位置点。本发明所述的二次离子质谱曲线分层位置点的自动计算方法具有效率高、精度高以及降低上手难度的优点。
本发明授权一种二次离子质谱曲线分层位置点的自动计算方法在权利要求书中公布了:1.一种基于二次离子质谱曲线的样品分层位置点的自动计算方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:收集二次离子质谱测定样品的曲线原始数据并预处理所述原始数据;所述原始数据为SIMS实验采集的原始数据,包括元素种类、时间与强度、标样测试数据、量测深度;S2:识别并提取经S1步骤预处理后的数据的关键特征位置点;S3:根据S2步骤提取的关键特征位置点使用自动设定算法计算阈值,大于所述阈值的位置点为所述样品的分层位置点;S4:分层位置点自动计算结果的验证与调整;所述分层位置点自动计算结果的验证方法为将自动计算结果与已知样结果或精准测量的结果进行比较,验证自动计算的准确性,当所述自动计算结果与已知样结果或精准测量的结果不符时,对所述分层位置点自动计算结果进行调整,调整方法包括建立数据集和参数调整;所述数据集为测量结果准确无误的专家数据集,所述数据集包括训练集、验证集和测试集,所述训练集、验证集以及测试集的数据占比为7:2:1;所述参数调整包括模型训练、模型验证与调优和模型评估,其中模型训练为利用训练集中的样本调整预处理步骤、特征位置点的提取方法或阈值的自动设定方法,直到调整后的所述自动计算方法对所述训练集的样本计算出来的分层位置点与所述训练集本身的分层位置点一致;所述模型验证与调优具体为利用所述验证集测试所述模型训练调整后的自动计算方法对所述验证集中的样本自动计算得到的分层位置点是否准确一致,如果不一致则继续调整预处理步骤、特征位置点的提取方法或阈值的自动设定方法参数;所述模型评估具体为利用所述测试集来验证调优后所述自动计算方法计算的分层位置点是否准确一致,如果不一致则重复模型训练和模型验证与调优步骤。
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