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龙图腾网恭喜常州大学申请的专利一种气泡黏度场和压力场的测算方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN113962137B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111272426.9，技术领域涉及：G06F30/25；该发明授权一种气泡黏度场和压力场的测算方法是由庞明军;王俊设计研发完成，并于2021-10-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种气泡黏度场和压力场的测算方法在说明书摘要公布了：本发明涉及流体测算技术领域，尤其涉及一种气泡黏度场和压力场的测算方法，包括S1、寻找干净气泡和污染气泡雷诺数的关系；S2、计算干净气泡和受污染气泡在流体中运动阻力系数；S3、分别计算干净气泡和污染气泡雷诺数；S4、建立颗粒与干净气泡的雷诺数的关系；S5、通过测量装置测量颗粒周围的速度场；S6、计算颗粒黏度场；S7、计算颗粒压力场。本发明利用同直径颗粒模拟污染气泡，根据干净气泡和污染气泡雷诺数的关系建立同直径颗粒与干净气泡的雷诺数的关系；测量流体经过固定颗粒周围流场来表征干净运动气泡周围流场，根据流体力学得到干净运动气泡周围的黏度场和压力场。

本发明授权一种气泡黏度场和压力场的测算方法在权利要求书中公布了：1.一种气泡黏度场和压力场的测算方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、寻找直径相同界面干净气泡和界面污染气泡雷诺数的关系，建立气泡雷诺数Reb与气泡上浮速度ub关系；S2、计算界面干净气泡和界面受污染气泡在流体中运动阻力系数CD；S3、计算界面干净气泡和界面受污染气泡雷诺数的关系式；计算界面干净气泡雷诺数Reb干净关于其物性参数db、μ、ρf、ρb、g的表达式： 其中，db为气泡直径，ρf为流体密度，ρb为气泡密度，g为重力加速度，μ为流体黏度；计算界面污染气泡雷诺数Reb污染关于其物性参数db、μ、ρf、ρb、g的表达式： 通过式4和式5得界面干净气泡雷诺数与界面污染气泡雷诺数的关系，如式6所示： 其中，x为界面干净气泡雷诺数与界面污染气泡雷诺数的比值；S4、利用同直径颗粒模拟污染气泡，建立同直径颗粒雷诺数与干净气泡的雷诺数的关系，同直径颗粒雷诺数公式为Rep＝ρdpUμ0，从而得到干净气泡的雷诺数，即Reb干净＝xRep；式中Rep表示颗粒雷诺数；ρ表示密度，kgm3；dp表示颗粒直径，mm；U表示速度，ms；μ0表示流体的零剪切黏度，Pa·s；S5、通过测量装置测量雷诺数为Rep颗粒周围的速度场；S6、根据颗粒周围的速度场计算颗粒周围的黏度场；求解应变率张量和应变率张量的第二不变量Ⅱ2D；代入本构方程求出黏度η； 其中，μ∞为无穷剪切黏度，μ0为流体的零剪切黏度，m为流变指数；S7、根据颗粒周围的黏度场和颗粒雷诺数Rep计算颗粒周围的压力场；求出应力τ、应变量γ和黏度之间的关系：将应力τi,j的结果代入动量方程公式；取压力梯度向量场的散度得到压力泊松方程16：

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