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龙图腾网恭喜西南技术物理研究所申请的专利一种激光探测线性自动校准装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114527451B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111617242.1，技术领域涉及：G01S7/497；该发明授权一种激光探测线性自动校准装置是由樊红英;王成城;王询;马利国;欧阳刚;蒋泽伟;孟庆安;张浩设计研发完成，并于2021-12-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种激光探测线性自动校准装置在说明书摘要公布了：本发明公开了一种激光探测线性自动校准装置，其包括：稳定激光束、准直缩束光学系统、电控渐变衰减器、多片固定倍率电控衰减器、微反射镜阵列、被校探测器、标准探测器、电脑控制端，稳定激光束经准直缩束光学系统输出准直小口径激光束，经电控渐变衰减器以及多片固定倍率电控衰减器，照射到微反射镜阵列上；微反射镜阵列设置控制全开时，即由电脑控制端输出全白图像，激光束反射到被校探测器；微反射镜阵列设置控制全关时，即由电脑控制端输出全黑图像，激光束反射到标准探测器。本发明可实现120dB范围内的细微步长的探测线性自动校准，具有广泛的应用前景。

本发明授权一种激光探测线性自动校准装置在权利要求书中公布了：1.一种激光探测线性自动校准方法，其特征在于，所述校准方法基于一种激光探测线性自动校准装置进行校准，所述校准装置包括：稳定激光束1、准直缩束光学系统2、电控渐变衰减器3、多片固定倍率电控衰减器4、微反射镜阵列5、被校探测器6、标准探测器7、电脑控制端8，稳定激光束1经准直缩束光学系统2输出准直小口径激光束，经电控渐变衰减器3以及多片固定倍率电控衰减器4，照射到微反射镜阵列5上；微反射镜阵列5设置控制全开时，即由电脑控制端8输出全白图像，激光束反射到被校探测器7；微反射镜阵列5设置控制全关时，即由电脑控制端8输出全黑图像，激光束反射到标准探测器6；所述电控渐变衰减器3产生30dB连续衰减调节；所述固定倍率电控衰减器4包括五片20dB衰减递增的衰减片，最大衰减为100dB；所述微反射镜阵列5选择靶面小于8mm，分辨率1024×760；所述微反射镜阵列5中，每个微镜单元包含反射镜，反射镜采用铝制平面镜，在可见光波段和红外波段高反；所述微反射镜阵列5中，反射镜沿着对角线方向翻转，翻转角度为+12°和-12°，分别代表着“开”和“关”状态；所述校准方法的过程为：由电脑控制端8根据校准量程控制多片固定倍率电控衰减器4，输出被校量程激光束最大值；再控制电控渐变衰减器3在量程中进行细分；微反射镜阵列5设置控制全开，电脑控制端8读取被校探测器7测量激光能量值Q1，微反射镜阵列5设置控制全关，电脑控制端8读取标准探测器6测量激光能量值Q2，将Q2值赋值给被校探测器；根据黑白图控制微反射镜阵列5微反射镜阵列开关的数量，当满足设定图像与该图像取反时，被校探测器7输出激光能量值相同，即为Q22值，赋值给被校探测器7；调节电控渐变衰减器3，以及多片固定倍率电控衰减器4，自动重复操作，得到被校探测器7整个测量量程中的线性赋值曲线，再通过向微反射镜阵列5输出不同比例黑白图进行验证。

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