恭喜佳能株式会社丰泉悟崇获国家专利权
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龙图腾网恭喜佳能株式会社申请的专利调色剂和调色剂的生产方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN113448199B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-17发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202110313996.1,技术领域涉及:G03G9/08;该发明授权调色剂和调色剂的生产方法是由丰泉悟崇设计研发完成,并于2021-03-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本调色剂和调色剂的生产方法在说明书摘要公布了:本发明涉及一种调色剂和调色剂的生产方法。一种调色剂,其包括包含调色剂基础颗粒和存在于调色剂基础颗粒表面上的最外层的调色剂颗粒,调色剂基础颗粒包含粘结剂树脂,其中多个凹部形成在调色剂颗粒表面上,并且当Tnm为用TEM观察的调色剂颗粒的截面分析中最外层的平均厚度时,并且当通过使用SPM从最外层的最外表面朝向调色剂颗粒中心测量调色剂颗粒上的凹部时,anm为各凹部的长径、bnm为各凹部的短径和dnm为各凹部的深度时,当“n”表示每1μm2调色剂颗粒表面上满足特定关系的凹部的个数时,n为30至200。
本发明授权调色剂和调色剂的生产方法在权利要求书中公布了:1.一种调色剂,其包括调色剂颗粒,所述调色剂颗粒包含调色剂基础颗粒和存在于所述调色剂基础颗粒的表面上的最外层,所述调色剂基础颗粒包含粘结剂树脂,其特征在于, 多个凹部形成在所述调色剂颗粒的表面上,和 T为在用透射电子显微镜观察的所述调色剂颗粒的截面分析中,所述最外层的平均厚度,和 通过使用扫描探针显微镜从所述最外层的最外表面朝向所述调色剂颗粒的中心测量所述调色剂颗粒上的所述凹部,a为各所述凹部的长径,b为各所述凹部的短径,和d为各所述凹部的深度,其中,a、b、d、T的单位均为nm, “n”表示每1μm2所述调色剂颗粒的表面上满足下式1至3的所述凹部的个数,“n”满足下式4: 50.0nm≤a≤200.0nm1 10.0nm≤b≤70.0nm2 0.7×T≤d≤1.5×T3 30≤n≤2004, 其中所述最外层的平均厚度T为5.0nm至100.0nm, 所述最外层的平均厚度T的测量方法如下: 使用透射电子显微镜TEM将调色剂颗粒的样品放大100,000倍,在单个调色剂颗粒上的四个随机选择的位置处测量最外层的厚度,使用该方法在50个调色剂颗粒上进行截面的检查,并且将总计200个位置的算术平均值用作平均厚度T; 所述凹部的长径a、所述凹部的短径b、所述凹部的深度d、所述凹部的个数n的测量方法如下: 使用扫描探针显微镜SPM将调色剂颗粒表面放大至1μm×1μm,并且观察最外层中的凹部,测量之后,对获得的1μm×1μm测量数据进行倾斜校正然后计算平均表面粗糙度,平均表面粗糙度是指对于从调色剂颗粒最外层的最外表面朝向调色剂颗粒的中心的测量,在1μm×1μm凹部深度的算术平均值,即最外层中凹部的深度d1;用上述方法对50个调色剂颗粒,测定凹部的深度d1至d50,并且将d1至d50的算术平均值作为凹部的深度d; 输出通过上述测量提供的倾斜校正的测量数据,测定在每1μm×1μm调色剂颗粒表面的凹部的长径和凹部的短径的算术平均值,并且分别指定为凹部的长径a1和凹部的短径b1,用上述方法对50个调色剂颗粒测定凹部的长径a1至a50和凹部的短径b1至b50,并且将它们的算术平均值分别指定为凹部的长径a和凹部的短径b; 输出通过上述测量提供的倾斜校正的测量数据;查看1μm×1μm中凹部的长径a、凹部的短径b、和凹部的深度d;并且计数在各情况下在每1μm×1μm调色剂颗粒表面满足式1至3的凹部的个数“n1”,用上述方法对50个调色剂颗粒计数满足式1至3的凹部的个数n1至n50,并且将它们的算术平均值指定为凹部的个数“n”, 所述最外层包含热塑性树脂或热固性树脂,所述热塑性树脂包含苯乙烯-丙烯酸系树脂,所述热固性树脂包含三聚氰胺系树脂。
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