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龙图腾网获悉北方民族大学申请的专利一种激光干涉位移测量装置及其使用方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN111174694B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202010113765.1，技术领域涉及：G01B9/02001；该发明授权一种激光干涉位移测量装置及其使用方法是由高洋;刘锋设计研发完成，并于2020-02-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种激光干涉位移测量装置及其使用方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种激光干涉位移测量装置及其使用方法，包括读数头、三角波反射镜，所述读数头包括激光源、第一分光镜、第二分光镜、分光棱镜、第一光电探测器、聚光透镜、第二光电探测器、处理器。本发明加入分光棱镜和第一光电探测器，避免在测量过程中，激光束的波长因环境等因素发生变化而导致最终测量结果的偏差，对激光束波长的变化进行补偿；本方案使用简单的光学器件，以及利用激光干涉原理，完成对被测物体的位移量测量工作，在保证了测量精度的情况下，还简化了装置的复杂性。

本发明授权一种激光干涉位移测量装置及其使用方法在权利要求书中公布了：1.一种激光干涉位移测量装置的使用方法，基于激光干涉位移测量装置实现，其特征在于： 所述装置包括：读数头； 还包括三角波反射镜，用于接收第一分光镜透射的激光束，并将接收到的激光束进行反射； 所述读数头包括： 激光源，用于发射激光束； 第一分光镜，用于将激光源发射的激光束透射至三角波反射镜，以及反射至聚光透镜； 第二分光镜，用于接收三角波反射镜反射的激光束，并将接收到的激光束再次反射至三角波反射镜，以及透射至分光棱镜； 分光棱镜，用于接收第二分光镜透射的激光束，并将激光束透射至第一光电探测器； 第一光电探测器，用于接收分光棱镜透射的激光束； 聚光透镜，用于接收第一分光镜和三角波反射镜反射的激光束，并将接收到的激光束聚光后透射至第二光电探测器； 第二光电探测器，用于接收聚光透镜透射的激光束； 处理器，用于记录第一光电探测器上激光束入射位置点的变化，以及检测第二光电探测器上产生的干涉现象，并计算出读数头或三角波反射镜的位移量； 所述读数头设置于被测物体上随被测物体一起移动，且三角波反射镜固定设置；或三角波反射镜设置于被测物体上随被测物体一起移动，且读数头固定设置； 所述方法包括以下步骤： 步骤S1：将三角波反射镜读数头固定设置，并将读数头三角波反射镜设置于被测物体上，使得读数头三角波反射镜随被测物体一起移动，设置激光源角度，使得激光源发射的激光束与水平方向的夹角为150度；将第一分光镜、第二分光镜相互平行设置，且第一分光镜、第二分光镜与水平方向的夹角为30度；将聚光透镜设置于第一分光镜远离三角波反射镜的一侧，并使得聚光透镜能够接收到第一分光镜、三角波反射镜反射的激光束；将第二光电探测器设置于聚光透镜的焦点处，使得第二光电探测器上能接收到聚光透镜透射的两束激光束，并产生干涉现象；将分光棱镜设置于第二分光镜与聚光透镜之间，使得分光棱镜能够接收到第二分光镜透射的激光束；将第一光电探测器设置于分光棱镜和聚光透镜之间，使得第一光电探测器能接收到分光棱镜透射的激光束； 步骤S2：开启激光源，使用处理器检测第二光电探测器上产生的干涉现象，读数头三角波反射镜随被测物体在水平方向上移动，使得第二光电探测器上产生的干涉现象为相长干涉相消干涉，并记录此时干涉次数为0次； 步骤S3：在时间t内再次在水平方向上移动被测物体，读数头三角波反射镜随被测物体一起移动，记录第二光电探测器上产生的相长干涉相消干涉次数为M； 步骤S4：通过第一光电探测器上激光束入射位置点的变化计算时间t内的平均激光束波长； 步骤S5：根据第二光电探测器上产生的相长干涉相消干涉次数M、激光平均波长，计算出被测物体第二次在水平方向上的位移量； 步骤S6：重复步骤S3至步骤S5，计算被测物体累计位移量。

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